Info
- Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.
1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2019 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (48 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 1-5044-5975-X |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910336059603321 |
| [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2019 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
| ||
1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2019 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (48 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 1-5044-5975-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996575457503316 |
| [Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2019 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
| ||
1641-2022 - IEEE Standard for Signal and Test Definition / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 1641-2022 - IEEE Standard for Signal and Test Definition / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | New York, USA : , : IEEE, , 2023 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (353 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Automatic test equipment |
| ISBN | 1-5044-9279-X |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996575115703316 |
| New York, USA : , : IEEE, , 2023 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
| ||
2009 4th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
| 2009 4th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (302 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Testing
Nanotechnology Integrated circuits - Design and construction |
| ISBN |
1-4244-4319-9
1-4244-4321-0 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996203024803316 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2009 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
| ||
2009 4th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
| 2009 4th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (302 pages) |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico |
Integrated circuits - Testing
Nanotechnology Integrated circuits - Design and construction |
| ISBN |
1-4244-4319-9
1-4244-4321-0 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910138781803321 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2009 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
| ||
2010 11th Latin American Test Workshop
| 2010 11th Latin American Test Workshop |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
| ISBN | 1-4244-7785-9 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910130789103321 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
| ||
2010 11th Latin American Test Workshop
| 2010 11th Latin American Test Workshop |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
| ISBN | 1-4244-7785-9 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996212772903316 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
| ||
2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
| 2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Testing |
| ISBN | 1-4244-5598-7 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910140653203321 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
| ||
2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
| 2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Testing |
| ISBN | 1-4244-5598-7 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996217171903316 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
| ||
2011 18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
| 2011 18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 2011 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (407 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.381548 |
| Soggetto topico | Integrated circuits - Testing |
| ISBN | 1-4577-0158-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996206974703316 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 2011 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
| ||
