2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
| 2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2006 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (xiii, 229 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.3810287 |
| Soggetto topico |
Electronic apparatus and appliances - Testing
Semiconductors - Testing |
| ISBN | 1-5090-9294-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996207692603316 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2006 | ||
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2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
| 2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2006 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (xiii, 229 pages) : illustrations |
| Disciplina | 621.3810287 |
| Soggetto topico |
Electronic apparatus and appliances - Testing
Semiconductors - Testing |
| ISBN |
9781509092949
1509092943 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910145625903321 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2006 | ||
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2009 10th Latin American Test Workshop
| 2009 10th Latin American Test Workshop |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 2009 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (221 pages) |
| Disciplina | 621.3810287 |
| Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
| ISBN |
9781509069293
1509069291 9781424442065 1424442060 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910138915303321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 2009 | ||
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2010 International Conference on Microelectronic Test Structures
| 2010 International Conference on Microelectronic Test Structures |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 |
| Descrizione fisica | 1 online resource : illustrations |
| Disciplina | 621.3810287 |
| Soggetto topico |
Electronic apparatus and appliances - Testing
Integrated circuits - Testing |
| ISBN |
9781424469154
1424469155 9781424469147 1424469147 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910139100503321 |
| [Place of publication not identified], : I E E E, 2010 | ||
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2011 12th Latin American Test Workshop
| 2011 12th Latin American Test Workshop |
| Pubbl/distr/stampa | [Place of publication not identified], : IEEE, 2011 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Disciplina | 621.3810287 |
| Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
| ISBN |
9781457714900
1457714906 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910139616203321 |
| [Place of publication not identified], : IEEE, 2011 | ||
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2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Staff
| 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Staff |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 |
| Descrizione fisica | 1 online resource : illustrations |
| Disciplina | 621.3810287 |
| Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
| ISBN | 1-5386-0415-9 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium |
| Record Nr. | UNISA-996280473403316 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 | ||
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2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Staff
| 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Staff |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 |
| Descrizione fisica | 1 online resource : illustrations |
| Disciplina | 621.3810287 |
| Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
| ISBN | 1-5386-0415-9 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium |
| Record Nr. | UNINA-9910209349503321 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2017 | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium : 12-14 March 2018, Sao Paulo, Brazil / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium : 12-14 March 2018, Sao Paulo, Brazil / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (49 pages) |
| Disciplina | 621.3810287 |
| Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
| ISBN | 1-5386-1472-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISA-996280699103316 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 | ||
| Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium : 12-14 March 2018, Sao Paulo, Brazil / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 2018 IEEE 19th Latin-American Test Symposium : 12-14 March 2018, Sao Paulo, Brazil / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (49 pages) |
| Disciplina | 621.3810287 |
| Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
| ISBN | 1-5386-1472-3 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910280905103321 |
| Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 | ||
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2022 IEEE 23rd Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers
| 2022 IEEE 23rd Latin American Test Symposium (LATS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Pubbl/distr/stampa | Piscataway, NJ : , : IEEE, , 2022 |
| Descrizione fisica | 1 online resource (various pagings) : illustrations |
| Disciplina | 621.3810287 |
| Soggetto topico | Electronic apparatus and appliances - Testing |
| ISBN | 1-66545-707-4 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | 2022 IEEE 23rd Latin American Test Symposium |
| Record Nr. | UNISA-996575147503316 |
| Piscataway, NJ : , : IEEE, , 2022 | ||
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