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Design and testing guides for the CMOS and lateral bipolar-on-SOI test library / / Janet C. Marshall, Mona E. Zaghloul
Design and testing guides for the CMOS and lateral bipolar-on-SOI test library / / Janet C. Marshall, Mona E. Zaghloul
Autore Marshall J. C (Janet C.)
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1994
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) MarshallJ. C (Janet C.)
ZaghloulM. E (Mona Elwakkad)
Collana NIST special publication
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910711191803321
Marshall J. C (Janet C.)  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1994
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Implementation of simulation program for modeling the effective resistivity of nanometer scale film and line interconnects / / A. Emre Yarimbiyik [and others]
Implementation of simulation program for modeling the effective resistivity of nanometer scale film and line interconnects / / A. Emre Yarimbiyik [and others]
Pubbl/distr/stampa [Gaithersburg, MD] : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2006]
Descrizione fisica 1 online resource (21 unnumbered pages) : illustrations
Altri autori (Persone) AllenRicky
BlackburnDavid L
SchafftHarry A
YarimbiyikA. Emre
ZaghloulM. E (Mona Elwakkad)
Collana NISTIR
Soggetto topico Nanoelectromechanical systems
Thin films - Size effects - Computer simulation
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910709939003321
[Gaithersburg, MD] : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2006]
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui