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Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis / edited J.I. Goldstein and H. Yakowitz ; foreword by T.E. Everhart
Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis / edited J.I. Goldstein and H. Yakowitz ; foreword by T.E. Everhart
Autore Yakowitz, H.
Pubbl/distr/stampa New York : Plenum Press, 1975
Descrizione fisica xviii, 582 p. : ill. ; 24 cm.
Altri autori (Persone) Goldstein, Joseph I.
Everhart, T.E.
Soggetto topico Microprobe analysis
Scanning electron microscope
Classificazione 53.0.64
53.0.692
502.8
GH212
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991001163649707536
Yakowitz, H.  
New York : Plenum Press, 1975
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. del Salento
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PRACTICAL scanning electron microscopy electron and ion microprobe analysis / Edited by J.I. Goldstein, H. Yakowitz
PRACTICAL scanning electron microscopy electron and ion microprobe analysis / Edited by J.I. Goldstein, H. Yakowitz
Edizione [3° ed.]
Pubbl/distr/stampa New York : Plenum Press, 1977
Descrizione fisica XVIII,582 p. ill. 25 cm
Disciplina 535
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ita
Record Nr. UNINA-990000345900403321
New York : Plenum Press, 1977
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
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