High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications / Shichang Du, Lifeng Xi |
Autore | Du, Shichang |
Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer, 2019 |
Descrizione fisica | XIV, 329 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina |
530.417(Fisica superficiale)
620.1(Scienze dei materiali) 658.4(Controllo di qualità) 530.4175(Film sottili) 623.045(Ingegneria meccanica) |
Altri autori (Persone) | Xi, Lifeng |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0126793 |
Du, Shichang | ||
Singapore, : Springer, 2019 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications / Shichang Du, Lifeng Xi |
Autore | Du, Shichang |
Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer, 2019 |
Descrizione fisica | XIV, 329 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina |
530.417(Fisica superficiale)
620.1(Scienze dei materiali) 658.4(Controllo di qualità) 530.4175(Film sottili) 623.045(Ingegneria meccanica) |
Altri autori (Persone) | Xi, Lifeng |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00126793 |
Du, Shichang | ||
Singapore, : Springer, 2019 | ||
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High Definition Metrology Based Surface Quality Control and Applications / Shichang Du, Lifeng Xi |
Autore | Du, Shichang |
Edizione | [Singapore : Springer, 2019] |
Pubbl/distr/stampa | XIV, 329 p., : ill. ; 24 cm |
Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
Disciplina |
530.417(Fisica superficiale)
620.1(Scienza dei materiali) 658.4(Controllo di qualità) 530.4175(Film sottili) 623.045(Ingegneria meccanica) |
Altri autori (Persone) | Xi, Lifeng |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0126793 |
Du, Shichang | ||
XIV, 329 p., : ill. ; 24 cm | ||
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