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MOS1 a program for two-dimensional analysis of Si MOSFETs / / Charles L. Wilson, James L. Blue
| MOS1 a program for two-dimensional analysis of Si MOSFETs / / Charles L. Wilson, James L. Blue |
| Autore | Wilson Charles L |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1985 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
BlueJ. L
WilsonCharles L |
| Collana | NBS special publication |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910709504603321 |
Wilson Charles L
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1985 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Studies of fingerprint matching using the NIST Verification Test Bed (VTB) / / Charles L. Wilson; Craig I. Watson; Michael D. Garris; Austin Hicklin
| Studies of fingerprint matching using the NIST Verification Test Bed (VTB) / / Charles L. Wilson; Craig I. Watson; Michael D. Garris; Austin Hicklin |
| Autore | Wilson Charles L |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2003 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
GarrisMichael D
HicklinR. Austin WatsonC. I (Craig I.) WilsonCharles L |
| Collana | NISTIR |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Altri titoli varianti | Studies of fingerprint matching using the NIST Verification Test Bed |
| Record Nr. | UNINA-9910710776003321 |
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Wilson Charles L
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2003 | ||
| Materiale a stampa | ||
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