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An approach to the metrologically sound traceable assessment of the chemical purity of organic reference materials / / David L. Duewer, Reenie M. Parris, Edward V. White, Willie E. May, Howard Elbaum
An approach to the metrologically sound traceable assessment of the chemical purity of organic reference materials / / David L. Duewer, Reenie M. Parris, Edward V. White, Willie E. May, Howard Elbaum
Autore Duewer David L
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2004
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) DuewerDavid L
ElbaumHoward
MayWillie E
ParrisReenie M
WhiteEdward V
Collana NIST special publication
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910709541003321
Duewer David L  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2004
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Droplet size distributions in the spray from commercial 'fogger' type pepper spray products / / Alim A. Fatah; Cary Presser; Edward V. White
Droplet size distributions in the spray from commercial 'fogger' type pepper spray products / / Alim A. Fatah; Cary Presser; Edward V. White
Autore Fatah Alim A
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2007
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) FatahAlim A
PresserC
WhiteEdward V
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710758103321
Fatah Alim A  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2007
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui