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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials / Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert
| Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials / Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert |
| Autore | Breitenstein, Otwin |
| Edizione | [3. ed] |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2018 |
| Descrizione fisica | xxi, 321 p. : ill. ; 24 cm |
| Altri autori (Persone) |
Schubert, Martin C.
Warta, Wilhelm |
| Soggetto topico |
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
78A60 - Lasers, masers, optical bistability, nonlinear optics [MSC 2020] |
| Soggetto non controllato |
Electronic Device Failure Analysis
IC Failure Analysis Illuminated LIT applied to solar cells LIT application to spin caloritronics problems Non-thermal LIT lifetime mapping Power devices for electric cars Shunt Imaging Solar Cell Characterization Trap Density Mapping |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Titolo uniforme | |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0211395 |
Breitenstein, Otwin
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| Cham, : Springer, 2018 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials / Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert
| Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials / Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert |
| Autore | Breitenstein, Otwin |
| Edizione | [3. ed] |
| Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2018 |
| Descrizione fisica | xxi, 321 p. : ill. ; 24 cm |
| Altri autori (Persone) |
Schubert, Martin C.
Warta, Wilhelm |
| Soggetto topico |
00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
78A60 - Lasers, masers, optical bistability, nonlinear optics [MSC 2020] |
| Soggetto non controllato |
Electronic Device Failure Analysis
IC Failure Analysis Illuminated LIT applied to solar cells LIT application to spin caloritronics problems Non-thermal LIT lifetime mapping Power devices for electric cars Shunt Imaging Solar Cell Characterization Trap Density Mapping |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Titolo uniforme | |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00211395 |
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Breitenstein, Otwin
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| Cham, : Springer, 2018 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials / O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp
| Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials / O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp |
| Autore | Breitenstein, Otwin <1953- > |
| Edizione | [2nd ed.] |
| Pubbl/distr/stampa | Heidelberg : Springer, ©2010 |
| Descrizione fisica | 255 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina | 621.381'548 |
| Altri autori (Persone) |
Warta, Wilhelm
Langenkamp, Martin <1964- > |
| Collana | Springer series in advanced microelectronics |
| Soggetto non controllato |
Strumenti elettronici - Proprietà termiche
Termografia |
| ISBN | 978-3-642-02416-0 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-990009313040403321 |
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Breitenstein, Otwin <1953- >
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| Heidelberg : Springer, ©2010 | ||
| Materiale a stampa | ||
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