Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer |
Autore | Voigtländer, Bert |
Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2019 |
Descrizione fisica | XIV, 331 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina |
543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica)
530(Fisica) 502.82(Microscopia) 620.5(Nanotecnologia) 621.39(Microingegneria) 570.28(Microscopia biologica) |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0126214 |
Voigtländer, Bert | ||
Cham, : Springer, 2019 | ||
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Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer |
Autore | Voigtländer, Bert |
Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2019 |
Descrizione fisica | XIV, 331 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina |
543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica)
530(Fisica) 502.82(Microscopia) 620.5(Nanotecnologia) 621.39(Microingegneria) 570.28(Microscopia biologica) |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00126214 |
Voigtländer, Bert | ||
Cham, : Springer, 2019 | ||
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Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer |
Autore | Voigtländer, Bert |
Edizione | [Cham : Springer, 2019] |
Pubbl/distr/stampa | XIV, 331 p., : ill. ; 24 cm |
Descrizione fisica | Pubblicazione in formato elettronico |
Disciplina |
543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica)
530(Fisica) 502.82(Microscopia) 620.5(Nanotecnologia) 621.39(Microingegneria) 570.28(Microscopia biologica) |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-SUN0126214 |
Voigtländer, Bert | ||
XIV, 331 p., : ill. ; 24 cm | ||
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Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / Bert Voigtländer |
Pubbl/distr/stampa | Heidelberg, : Springer, 2015 |
Descrizione fisica | XV, 382 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina |
620.5(Nanotecnologia)
621.39(Microingegneria) 620.1(Scienze dei materiali) 530.4(Fisica. Stati della materia) |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0242117 |
Heidelberg, : Springer, 2015 | ||
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Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / Bert Voigtländer |
Pubbl/distr/stampa | Heidelberg, : Springer, 2015 |
Descrizione fisica | XV, 382 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina |
620.5(Nanotecnologia)
621.39(Microingegneria) 620.1(Scienze dei materiali) 530.4(Fisica. Stati della materia) |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00242117 |
Heidelberg, : Springer, 2015 | ||
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