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MARC Lista (tabellare)
Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer
Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer
Autore Voigtländer, Bert
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2019
Descrizione fisica XIV, 331 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica)
530(Fisica)
502.82(Microscopia)
620.5(Nanotecnologia)
621.39(Microingegneria)
570.28(Microscopia biologica)
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0126214
Voigtländer, Bert  
Cham, : Springer, 2019
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
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Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer
Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer
Autore Voigtländer, Bert
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2019
Descrizione fisica XIV, 331 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica)
530(Fisica)
502.82(Microscopia)
620.5(Nanotecnologia)
621.39(Microingegneria)
570.28(Microscopia biologica)
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00126214
Voigtländer, Bert  
Cham, : Springer, 2019
Materiale a stampa
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Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer
Atomic Force Microscopy / Bert Voigtländer
Autore Voigtländer, Bert
Edizione [Cham : Springer, 2019]
Pubbl/distr/stampa XIV, 331 p., : ill. ; 24 cm
Descrizione fisica Pubblicazione in formato elettronico
Disciplina 543.5(Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica)
530(Fisica)
502.82(Microscopia)
620.5(Nanotecnologia)
621.39(Microingegneria)
570.28(Microscopia biologica)
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-SUN0126214
Voigtländer, Bert  
XIV, 331 p., : ill. ; 24 cm
Materiale a stampa
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Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / Bert Voigtländer
Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / Bert Voigtländer
Pubbl/distr/stampa Heidelberg, : Springer, 2015
Descrizione fisica XV, 382 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 620.5(Nanotecnologia)
621.39(Microingegneria)
620.1(Scienze dei materiali)
530.4(Fisica. Stati della materia)
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0242117
Heidelberg, : Springer, 2015
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Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / Bert Voigtländer
Scanning Probe Microscopy : Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / Bert Voigtländer
Pubbl/distr/stampa Heidelberg, : Springer, 2015
Descrizione fisica XV, 382 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 620.5(Nanotecnologia)
621.39(Microingegneria)
620.1(Scienze dei materiali)
530.4(Fisica. Stati della materia)
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00242117
Heidelberg, : Springer, 2015
Materiale a stampa
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