top

  Info

  • Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.

  Info

  • Utilizzare questo link per rimuovere la selezione effettuata.
Methods, Models and Tools for Fault Tolerance [Risorsa elettronica] / edited by David Hutchison, Takeo Kanade, Josef Kittler, Jon M. Kleinberg, Friedemann Mattern, John C. Mitchell, Moni Naor, Oscar Nierstrasz, C. Pandu Rangan, Bernhard Steffen, Madhu Sudan, Demetri Terzopoulos, Doug Tygar, Moshe Y. Vardi, Gerhard Weikum, Michael Butler, Cliff Jones, Alexander Romanovsky, Elena Troubitsyna
Methods, Models and Tools for Fault Tolerance [Risorsa elettronica] / edited by David Hutchison, Takeo Kanade, Josef Kittler, Jon M. Kleinberg, Friedemann Mattern, John C. Mitchell, Moni Naor, Oscar Nierstrasz, C. Pandu Rangan, Bernhard Steffen, Madhu Sudan, Demetri Terzopoulos, Doug Tygar, Moshe Y. Vardi, Gerhard Weikum, Michael Butler, Cliff Jones, Alexander Romanovsky, Elena Troubitsyna
Pubbl/distr/stampa Berlin ; Heidelberg : Springer, 2009
Collana Lecture Notes in Computer Science
ISBN 9783642008672
Formato Risorse elettroniche
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990009259760403321
Berlin ; Heidelberg : Springer, 2009
Risorse elettroniche
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Rigorous Development of Complex Fault-Tolerant Systems [Risorsa elettronica] / edited by Michael Butler, Cliff B. Jones, Alexander Romanovsky, Elena Troubitsyna
Rigorous Development of Complex Fault-Tolerant Systems [Risorsa elettronica] / edited by Michael Butler, Cliff B. Jones, Alexander Romanovsky, Elena Troubitsyna
Pubbl/distr/stampa Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006
Collana Lecture Notes in Computer Science
ISBN 9783540482673
Formato Risorse elettroniche
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990009249610403321
Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006
Risorse elettroniche
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui