Analysis of oxide and oxide/matrix interfaces in silicon nitride / / Nancy J. Tighe
| Analysis of oxide and oxide/matrix interfaces in silicon nitride / / Nancy J. Tighe |
| Autore | Tighe N. J |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1982 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) | TigheN. J |
| Collana | NBSIR |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910710217903321 |
Tighe N. J
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1982 | ||
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Application of proof testing to brittle materials at high temperatures / / N. J. Tighe; S. M. Wiederhorn
| Application of proof testing to brittle materials at high temperatures / / N. J. Tighe; S. M. Wiederhorn |
| Autore | Tighe N. J |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1981 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
TigheN. J
WiederhornS. M |
| Collana | NBSIR |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910710265003321 |
Tighe N. J
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1981 | ||
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Application of proof tests to silicon nitride / / N. J. Tighe; S. M. Wiederhorn; L. R. Russell
| Application of proof tests to silicon nitride / / N. J. Tighe; S. M. Wiederhorn; L. R. Russell |
| Autore | Tighe N. J |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1977 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
RussellL. R
TigheN. J WiederhornS. M |
| Collana | NBSIR |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910710011503321 |
Tighe N. J
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1977 | ||
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Fracture of brittle materials at high temperature / / N. J. Tighe; S. M. Wiederhorn
| Fracture of brittle materials at high temperature / / N. J. Tighe; S. M. Wiederhorn |
| Autore | Tighe N. J |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1978 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
TigheN. J
WiederhornS. M |
| Collana | NBSIR |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910709914503321 |
Tighe N. J
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1978 | ||
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In Situ oxidation of Y?O?-doped Si?N? / / N. J. Tighe; K. Kuroda; T. E. Mitchell; A. H. Heuer
| In Situ oxidation of Y?O?-doped Si?N? / / N. J. Tighe; K. Kuroda; T. E. Mitchell; A. H. Heuer |
| Autore | Tighe N. J |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1980 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
HeuerA. H
KurodaK (Kazuaki) MitchellT. E TigheN. J |
| Collana | NBSIR |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910710231803321 |
Tighe N. J
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1980 | ||
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Microstructural aspects of deformation and oxidation of magnesia-doped silicon nitride / / N. J. Tighe
| Microstructural aspects of deformation and oxidation of magnesia-doped silicon nitride / / N. J. Tighe |
| Autore | Tighe N. J |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1976 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) | TigheN. J |
| Collana | NBSIR |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910710023503321 |
Tighe N. J
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1976 | ||
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The structure of slow crack interfaces in silicon nitride / / N. J. Tighe
| The structure of slow crack interfaces in silicon nitride / / N. J. Tighe |
| Autore | Tighe N. J |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1976 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) | TigheN. J |
| Collana | NBSIR |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910710021903321 |
Tighe N. J
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1976 | ||
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