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Analisi quantitativa dei campi di deformazione in un'eterostruttura a semiconduttore per l'interpretazione di immagini di microscopia elettronica ad alta risoluzione / laureando Antonino Giuffrida ; relatori L. Vasanelli e L. Tapfer
| Analisi quantitativa dei campi di deformazione in un'eterostruttura a semiconduttore per l'interpretazione di immagini di microscopia elettronica ad alta risoluzione / laureando Antonino Giuffrida ; relatori L. Vasanelli e L. Tapfer |
| Autore | Giuffrida, Antonino |
| Pubbl/distr/stampa | Lecce : Università degli studi, Lecce. Facoltà di Scienze. Corso di laurea in Fisica, a.a. 1993-94 |
| Descrizione fisica | 109 p. ; 29 cm. |
| Altri autori (Persone) |
Tapfer, Leander
Vasanelli, Lorenzo |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | ita |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000808959707536 |
Giuffrida, Antonino
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| Lecce : Università degli studi, Lecce. Facoltà di Scienze. Corso di laurea in Fisica, a.a. 1993-94 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Salento | ||
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Physics and Technology of Semiconductor Quantum Devices : Proceedings of the International School held in Mesagne (Brindisi), Italy, 21-26 September 1992 / K.H. Ploog, L. Tapfer (Eds.)
| Physics and Technology of Semiconductor Quantum Devices : Proceedings of the International School held in Mesagne (Brindisi), Italy, 21-26 September 1992 / K.H. Ploog, L. Tapfer (Eds.) |
| Autore | Ploog, Klaus H. |
| Pubbl/distr/stampa | Berlin [etc.] : Springer-Verlag, 1993 |
| Disciplina | 537.622 |
| Collana | Lecture notes in physics |
| Soggetto non controllato | Semiconduttori |
| ISBN | 3-540-56989-8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-990001115930403321 |
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Ploog, Klaus H.
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| Berlin [etc.] : Springer-Verlag, 1993 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Studi mediante diffrattometria di raggi X di eterostrutture ZnS/GaAs (001) / laureando Tommaso Peluso ; relatori Lorenzo Vasanelli e Leander Tapfer
| Studi mediante diffrattometria di raggi X di eterostrutture ZnS/GaAs (001) / laureando Tommaso Peluso ; relatori Lorenzo Vasanelli e Leander Tapfer |
| Autore | Peluso, Tommaso |
| Descrizione fisica | 80 p. |
| Altri autori (Persone) |
Tapfer, Leander
Vasanelli, Lorenzo |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | ita |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001273619707536 |
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Peluso, Tommaso
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| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. del Salento | ||
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