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Metric mapping concepts for TIA / / Michelle Potts Steves; Jean Scholtz
Metric mapping concepts for TIA / / Michelle Potts Steves; Jean Scholtz
Autore Steves Michelle Potts
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2004
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) ScholtzJean
StevesMichelle Potts
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710775403321
Steves Michelle Potts  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2004
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Viewing technologies for CAD models / / Michelle Potts Steves; Simon Frechette
Viewing technologies for CAD models / / Michelle Potts Steves; Simon Frechette
Autore Steves Michelle Potts
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2003
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) FrechetteSimon
StevesMichelle Potts
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710524803321
Steves Michelle Potts  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2003
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui