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Manufacturing metrology and standards for the health care enterprise program summary / / Ram D. Sriram; Steven J. Fenves
| Manufacturing metrology and standards for the health care enterprise program summary / / Ram D. Sriram; Steven J. Fenves |
| Autore | Sriram Ram D |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2008 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
FenvesSteven J (Steven Joseph)
SriramRam D |
| Collana | NISTIR |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910710754603321 |
Sriram Ram D
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2008 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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NIST workshop on ontology evaluation / / Ram D. Sriram; Conrad Bock; Fabian Neuhaus; Evan Wallace; Mary Brady; Mark A. Musen; Joanne S. Luciano
| NIST workshop on ontology evaluation / / Ram D. Sriram; Conrad Bock; Fabian Neuhaus; Evan Wallace; Mary Brady; Mark A. Musen; Joanne S. Luciano |
| Autore | Sriram Ram D |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2011 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
BockC (Conrad)
BradyMary LucianoJoanne S MusenMark A NeuhausFabian SriramRam D WallaceEvan |
| Collana | NISTIR |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910709597803321 |
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Sriram Ram D
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2011 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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