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Defect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, Hans J. Bunge
Defect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, Hans J. Bunge
Autore Snyder, Robert L.
Pubbl/distr/stampa Oxford, : Oxford University Press, 1999
Descrizione fisica xxii, 785 p. ; 24 cm
Disciplina 548.83
Altri autori (Persone) Bunge, Hans J.
Fiala, Jaroslav
Soggetto topico Cristallografia
Diffrazione di polveri
Microstruttura
ISBN 0198501897
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAS-RML0266477
Snyder, Robert L.  
Oxford, : Oxford University Press, 1999
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino
Opac: Controlla la disponibilità qui
Introduction to X-ray powder diffractometry / Ron Jenkins, Robert L. Snyder
Introduction to X-ray powder diffractometry / Ron Jenkins, Robert L. Snyder
Autore Jenkins, Ron
Pubbl/distr/stampa New York, : Wiley, 1996
Descrizione fisica XXIV, 404 p. ; 23 cm
Disciplina 548.83
Altri autori (Persone) Snyder, Robert L.
ISBN 0471513393
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAS-RML0295936
Jenkins, Ron  
New York, : Wiley, 1996
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino
Opac: Controlla la disponibilità qui