top

  Info

  • Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.

  Info

  • Utilizzare questo link per rimuovere la selezione effettuata.
Politeness phenomena in England and Greece : a cross-cultural perspective / Maria Sifianou
Politeness phenomena in England and Greece : a cross-cultural perspective / Maria Sifianou
Autore Sifianou, Maria
Pubbl/distr/stampa Oxford ; New York : Clarendon Press, [1992]
Descrizione fisica xi, 254 p. ; 23 cm.
Disciplina 306.4409495
Soggetto topico Interazione sociale - Grecia
Interazione sociale - Inghilterra
Lingua greca - Aspetti sociali
Lingua inglese - Aspetti sociali
Sociolinguistica
ISBN 0198239726
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991003985809707536
Sifianou, Maria  
Oxford ; New York : Clarendon Press, [1992]
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. del Salento
Opac: Controlla la disponibilità qui
Themes in greek linguistics : papers from the first international conference on greek linguistics, Reading, september 1993, edited by Irene Philippaki-Warburton, Katerina Nicolaidis / Maria Sifianou
Themes in greek linguistics : papers from the first international conference on greek linguistics, Reading, september 1993, edited by Irene Philippaki-Warburton, Katerina Nicolaidis / Maria Sifianou
Autore INTERNATIONAL CONFERENCE ON GREEK LINGUISTICS : <1. : 1993
Pubbl/distr/stampa Amsterdam : Benjamins, c1994
Descrizione fisica XVII, 534 p. ; 23 cm
Disciplina 489.3
Collana Amsterdam studies in the theory and history of linguistic science. Series 4., Current issues in linguistic theory
Soggetto non controllato Lingua greca - Congressi
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ita
Record Nr. UNINA-990004615680403321
INTERNATIONAL CONFERENCE ON GREEK LINGUISTICS : <1. : 1993  
Amsterdam : Benjamins, c1994
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui