Power MOSFET thermal instability operation characterization support [[electronic resource] /] / John L. Shue and Henning W. Leidecker
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| Autore: |
Shue John L
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| Titolo: |
Power MOSFET thermal instability operation characterization support [[electronic resource] /] / John L. Shue and Henning W. Leidecker
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| Pubblicazione: | Hampton, Va. : , : National Aeronautics and Space Administration, Langley Research Center, , [2010] |
| Descrizione fisica: | 1 online resource (iv, 16 pages) : illustrations |
| Soggetto topico: | Metal oxide semiconductors |
| Field effect transistors | |
| Thermal instability | |
| Charge carriers | |
| Ground support equipment | |
| Altri autori: |
LeideckerHenning W
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| Note generali: | Title from title screen (viewed on Nov. 8, 2010). |
| "April 2010." | |
| Nota di bibliografia: | Includes bibliographical references (page 16) |
| Titolo autorizzato: | Power MOSFET thermal instability operation characterization support |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 9910699506403321 |
| Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
NASA technical memorandum ; ; 216684.