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NIST measurement service for DC standard resistors / / Randolph E. Elmquist, Dean G. Jarrett, George R. Jones, Marlin E. Kraft, Scott H. Shields, R. F. Dziuba
| NIST measurement service for DC standard resistors / / Randolph E. Elmquist, Dean G. Jarrett, George R. Jones, Marlin E. Kraft, Scott H. Shields, R. F. Dziuba |
| Autore | Elmquist Randolph E |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2003 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
DziubaR. F
ElmquistRandolph E JarrettDean G JonesGeorge R KraftMarlin E ShieldsScott H |
| Collana | NIST technical note |
| Soggetto topico | Electric resistance - Measurement - Standards |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910711204003321 |
Elmquist Randolph E
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| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2003 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Three-terminal precision standard capacitor calibrations at NIST / / Andrew Koffman, Yicheng Wang, Scott Shields
| Three-terminal precision standard capacitor calibrations at NIST / / Andrew Koffman, Yicheng Wang, Scott Shields |
| Autore | Koffman Andrew D |
| Pubbl/distr/stampa | [Gaithersburg, MD] : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2007] |
| Descrizione fisica | 1 online resource (iii pages, 67 unnumbered pages) : illustrations (some color) |
| Altri autori (Persone) |
ShieldsScott H
WangYicheng |
| Collana | NIST special publication |
| Soggetto topico |
Capacitance meters - Calibration
Electric capacity - Standards |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910711165403321 |
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Koffman Andrew D
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| [Gaithersburg, MD] : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2007] | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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