Scanning Ion Conductance Microscopy / editors Tilman E. Schäffer |
Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2022 |
Descrizione fisica | XI, 230 p. : ill. ; 24 cm |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0261750 |
Cham, : Springer, 2022 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
|
Scanning Ion Conductance Microscopy / editors Tilman E. Schäffer |
Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2022 |
Descrizione fisica | XI, 230 p. : ill. ; 24 cm |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00261750 |
Cham, : Springer, 2022 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
|