top

  Info

  • Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.

  Info

  • Utilizzare questo link per rimuovere la selezione effettuata.
Collected executive summaries studies of the National Measurement System 1972-75 / / Raymond C. Sangster
Collected executive summaries studies of the National Measurement System 1972-75 / / Raymond C. Sangster
Autore Sangster Raymond C
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1976
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) SangsterRaymond C
Collana NBSIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710033203321
Sangster Raymond C  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1976
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Final summary report study of the National Measurement System 1972-75 / / Raymond C. Sangster
Final summary report study of the National Measurement System 1972-75 / / Raymond C. Sangster
Autore Sangster Raymond C
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1976
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) SangsterRaymond C
Collana NBSIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710039403321
Sangster Raymond C  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1976
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Guidelines for specification and procurement of measurement instrumentation / / Jeannette King; H. Steffen Peiser; Raymond C. Sangster
Guidelines for specification and procurement of measurement instrumentation / / Jeannette King; H. Steffen Peiser; Raymond C. Sangster
Autore King Jeannette
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1978
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) KingJeannette
PeiserH. Steffen <1917-2005.> (Herbert Steffen)
SangsterRaymond C
Collana NBSIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710297603321
King Jeannette  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1978
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Standardization and measurement services in Indonesia / / H. Steffen Peisner; Noel J. Raufaste; Raymond C. Sangster; Benjamin M. Gutterman; Penelope M. Odar
Standardization and measurement services in Indonesia / / H. Steffen Peisner; Noel J. Raufaste; Raymond C. Sangster; Benjamin M. Gutterman; Penelope M. Odar
Autore Peiser H. Steffen (Herbert Steffen), <1917-2005.>
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1979
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) GuttermanBenjamin M
OdarPenelope M
PeiserH. Steffen <1917-2005.> (Herbert Steffen)
RaufasteNoel J
SangsterRaymond C
Collana NBSIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710247003321
Peiser H. Steffen (Herbert Steffen), <1917-2005.>  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1979
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Structure and functions of the National Measurement System / / Raymond C. Sangster
Structure and functions of the National Measurement System / / Raymond C. Sangster
Autore Sangster Raymond C
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1977
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) SangsterRaymond C
Collana NBSIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710033503321
Sangster Raymond C  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1977
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Transactions matrix description of the National System of Physical Measurement / / Raymond C. Sangster
Transactions matrix description of the National System of Physical Measurement / / Raymond C. Sangster
Autore Sangster Raymond C
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1976
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) SangsterRaymond C
Collana NBSIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710034803321
Sangster Raymond C  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1976
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Visiting team report on 1977 industrial survey in Korea on precision measurements and standards / / KunMo Chung; H. Steffen Peiser; Raymond C. Sangster
Visiting team report on 1977 industrial survey in Korea on precision measurements and standards / / KunMo Chung; H. Steffen Peiser; Raymond C. Sangster
Autore Chung KunMo
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1977
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) ChungKunMo
PeiserH. Steffen <1917-2005.> (Herbert Steffen)
SangsterRaymond C
Collana NBSIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710299903321
Chung KunMo  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1977
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui