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2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : S. Lake Tahoe, California, October 11-15, 2015
2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : S. Lake Tahoe, California, October 11-15, 2015
Autore Ryan Jason
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2016
Descrizione fisica 1 online resource (183 pages)
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Integrated circuits - Reliability
Semiconductors - Reliability
ISBN 1-4673-7396-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto PLATFORM TECHNICAL PRESENTATIONS -- POSTER PRESENTATIONS-REFEREED -- POSTER PRESENTATIONS-OPEN -- Tutorials -- Discussion Group (DG) Summaries -- BIOGRAPHIES -- PICTURES.
Record Nr. UNISA-996280072303316
Ryan Jason  
New York : , : IEEE, , 2016
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui
2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : S. Lake Tahoe, California, October 11-15, 2015
2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : S. Lake Tahoe, California, October 11-15, 2015
Autore Ryan Jason
Pubbl/distr/stampa New York : , : IEEE, , 2016
Descrizione fisica 1 online resource (183 pages)
Disciplina 621.3815
Soggetto topico Integrated circuits - Reliability
Semiconductors - Reliability
ISBN 1-4673-7396-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto PLATFORM TECHNICAL PRESENTATIONS -- POSTER PRESENTATIONS-REFEREED -- POSTER PRESENTATIONS-OPEN -- Tutorials -- Discussion Group (DG) Summaries -- BIOGRAPHIES -- PICTURES.
Record Nr. UNINA-9910136366303321
Ryan Jason  
New York : , : IEEE, , 2016
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui