2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : S. Lake Tahoe, California, October 11-15, 2015 |
Autore | Ryan Jason |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2016 |
Descrizione fisica | 1 online resource (183 pages) |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico |
Integrated circuits - Reliability
Semiconductors - Reliability |
ISBN | 1-4673-7396-6 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Nota di contenuto | PLATFORM TECHNICAL PRESENTATIONS -- POSTER PRESENTATIONS-REFEREED -- POSTER PRESENTATIONS-OPEN -- Tutorials -- Discussion Group (DG) Summaries -- BIOGRAPHIES -- PICTURES. |
Record Nr. | UNISA-996280072303316 |
Ryan Jason | ||
New York : , : IEEE, , 2016 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. di Salerno | ||
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2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report : S. Lake Tahoe, California, October 11-15, 2015 |
Autore | Ryan Jason |
Pubbl/distr/stampa | New York : , : IEEE, , 2016 |
Descrizione fisica | 1 online resource (183 pages) |
Disciplina | 621.3815 |
Soggetto topico |
Integrated circuits - Reliability
Semiconductors - Reliability |
ISBN | 1-4673-7396-6 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Nota di contenuto | PLATFORM TECHNICAL PRESENTATIONS -- POSTER PRESENTATIONS-REFEREED -- POSTER PRESENTATIONS-OPEN -- Tutorials -- Discussion Group (DG) Summaries -- BIOGRAPHIES -- PICTURES. |
Record Nr. | UNINA-9910136366303321 |
Ryan Jason | ||
New York : , : IEEE, , 2016 | ||
Materiale a stampa | ||
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