Info
- Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.
Description of CMOS test chip, NBS-39 / / T. J. Russell
| Description of CMOS test chip, NBS-39 / / T. J. Russell |
| Autore | Russell T. J |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1983 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) | RussellT. J |
| Collana | NBSIR |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910710210203321 |
Russell T. J
|
||
| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1983 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
| ||
Measurement techniques for solar cells, Annual report December 15, 1978 to December 14, 1979 / / D. E. Sawyer; H. K. Kessler; T. J. Russell; W. F. Lankford; H. A. Schafft
| Measurement techniques for solar cells, Annual report December 15, 1978 to December 14, 1979 / / D. E. Sawyer; H. K. Kessler; T. J. Russell; W. F. Lankford; H. A. Schafft |
| Autore | Sawyer D. E |
| Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1981 |
| Descrizione fisica | 1 online resource |
| Altri autori (Persone) |
KesslerHerbert K
LankfordW. F RussellT. J SawyerD. E SchafftH. A |
| Collana | NBSIR |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-9910710223003321 |
|
Sawyer D. E
|
||
| Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1981 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
| ||