Leakage current and defect characterization of short channel MOSFETs / / Guntrade Roll |
Autore | Roll Guntrade |
Pubbl/distr/stampa | Berlin : , : Logos Verlag Berlin, , [2014] |
Descrizione fisica | 1 online resource (242 pages) |
Disciplina | 621.3815284 |
Collana | Research at NaMLab |
Soggetto topico | Metal oxide semiconductor field-effect transistors |
Soggetto genere / forma | Electronic books. |
ISBN | 3-8325-9666-6 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910466968503321 |
Roll Guntrade | ||
Berlin : , : Logos Verlag Berlin, , [2014] | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Leakage current and defect characterization of short channel MOSFETs / / Guntrade Roll |
Autore | Roll Guntrade |
Pubbl/distr/stampa | Berlin : , : Logos Verlag Berlin, , [2014] |
Descrizione fisica | 1 online resource (242 pages) |
Disciplina | 621.3815284 |
Collana | Research at NaMLab |
Soggetto topico | Metal oxide semiconductor field-effect transistors |
ISBN | 3-8325-9666-6 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910795584703321 |
Roll Guntrade | ||
Berlin : , : Logos Verlag Berlin, , [2014] | ||
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Leakage current and defect characterization of short channel MOSFETs / / Guntrade Roll |
Autore | Roll Guntrade |
Pubbl/distr/stampa | Berlin : , : Logos Verlag Berlin, , [2014] |
Descrizione fisica | 1 online resource (242 pages) |
Disciplina | 621.3815284 |
Collana | Research at NaMLab |
Soggetto topico | Metal oxide semiconductor field-effect transistors |
ISBN | 3-8325-9666-6 |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNINA-9910822454603321 |
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