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Combinatorial Image Analysis [[electronic resource] ] : 11th International Workshop, IWCIA 2006, Berlin, Germany, June 19-21, 2006, Proceedings / / edited by Ralf Reulke, Ulrich Eckardt, Boris Flach, Uwe Knauer, Konrad Polthier
Combinatorial Image Analysis [[electronic resource] ] : 11th International Workshop, IWCIA 2006, Berlin, Germany, June 19-21, 2006, Proceedings / / edited by Ralf Reulke, Ulrich Eckardt, Boris Flach, Uwe Knauer, Konrad Polthier
Edizione [1st ed. 2006.]
Pubbl/distr/stampa Berlin, Heidelberg : , : Springer Berlin Heidelberg : , : Imprint : Springer, , 2006
Descrizione fisica 1 online resource (XII, 484 p.)
Disciplina 621.36/7
Collana Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics
Soggetto topico Optical data processing
Pattern recognition
Computer graphics
Algorithms
Computer science—Mathematics
Numerical analysis
Image Processing and Computer Vision
Pattern Recognition
Computer Graphics
Algorithm Analysis and Problem Complexity
Discrete Mathematics in Computer Science
Numeric Computing
ISBN 3-540-35154-X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto Combinatorics and Counting -- Topological Map: An Efficient Tool to Compute Incrementally Topological Features on 3D Images -- Counting Gaps in Binary Pictures -- The Exact Lattice Width of Planar Sets and Minimal Arithmetical Thickness -- Thinning and Watersheds -- Branch Voxels and Junctions in 3D Skeletons -- New 2D Parallel Thinning Algorithms Based on Critical Kernels -- Grayscale Watersheds on Perfect Fusion Graphs -- Distances -- Matching of the Multi-channel Images with Improved Nonparametric Transformations and Weighted Binary Distance Measures -- Approximating Euclidean Distance Using Distances Based on Neighbourhood Sequences in Non-standard Three-Dimensional Grids -- Fuzzy Distance Based Hierarchical Clustering Calculated Using the A??? Algorithm -- Image Representation and Segmentation -- A New Sub-pixel Map for Image Analysis -- Feature Based Defuzzification at Increased Spatial Resolution -- Extended Mumford-Shah Regularization in Bayesian Estimation for Blind Image Deconvolution and Segmentation -- Invited Paper -- Polygonal Approximation of Point Sets -- Approximations I -- Linear Discrete Line Recognition and Reconstruction Based on a Generalized Preimage -- Digital Line Recognition, Convex Hull, Thickness, a Unified and Logarithmic Technique -- Incremental and Transitive Discrete Rotations -- Digital Topology -- Discrete Homotopy of a Closed k-Surface -- Topology Preserving Digitization with FCC and BCC Grids -- On the Notion of Dimension in Digital Spaces -- Shape and Matching -- Size and Shape Measure of Particles by Image Analysis -- A Comparison of Shape Matching Methods for Contour Based Pose Estimation -- Relevance Criteria for Data Mining Using Error-Tolerant Graph Matching -- Invited Paper -- Computational Aspects of Digital Plane and Hyperplane Recognition -- Approximations II -- A Linear Algorithm for Polygonal Representations of Digital Sets -- The Monogenic Curvature Scale-Space -- Combinatorics and Grammars -- Combinatorial Properties of Scale Space Singular Points -- Additive Subsets -- Cooperating Basic Puzzle Grammar Systems -- Tomography -- Quasi-isometric and Quasi-conformal Development of Triangulated Surfaces for Computerized Tomography -- Binary Tomography with Deblurring -- A Neural Network Approach to Real-Time Discrete Tomography -- Poster Session -- A Novel Automated Hand-Based Personal Identification -- Shortest Paths in a Cuboidal World -- Surface Registration Markers from Range Scan Data -- Two-Dimensional Discrete Shape Matching and Recognition -- Hierarchical Tree of Image Derived by Diffusion Filtering -- Object Tracking Using Genetic Evolution Based Kernel Particle Filter -- An Efficient Reconstruction of 2D-Tiling with t 1,2, t 2,1, t 1,1 Tiles.
Record Nr. UNISA-996465737803316
Berlin, Heidelberg : , : Springer Berlin Heidelberg : , : Imprint : Springer, , 2006
Materiale a stampa
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Combinatorial image analysis : 11th International Workshop, IWCIA 2006, Berlin, Germany, June 19-21, 2006 : proceedings / / Ralf Reulke ... [et al.] (eds.)
Combinatorial image analysis : 11th International Workshop, IWCIA 2006, Berlin, Germany, June 19-21, 2006 : proceedings / / Ralf Reulke ... [et al.] (eds.)
Edizione [1st ed. 2006.]
Pubbl/distr/stampa Berlin, : Springer, 2006
Descrizione fisica 1 online resource (XII, 484 p.)
Disciplina 621.36/7
Altri autori (Persone) ReulkeRalf
Collana Lecture notes in computer science
LNCS sublibrary. SL 6, Image processing, computer vision, pattern recognition, and graphics
Soggetto topico Image analysis
Combinatorial analysis
ISBN 3-540-35154-X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto Combinatorics and Counting -- Topological Map: An Efficient Tool to Compute Incrementally Topological Features on 3D Images -- Counting Gaps in Binary Pictures -- The Exact Lattice Width of Planar Sets and Minimal Arithmetical Thickness -- Thinning and Watersheds -- Branch Voxels and Junctions in 3D Skeletons -- New 2D Parallel Thinning Algorithms Based on Critical Kernels -- Grayscale Watersheds on Perfect Fusion Graphs -- Distances -- Matching of the Multi-channel Images with Improved Nonparametric Transformations and Weighted Binary Distance Measures -- Approximating Euclidean Distance Using Distances Based on Neighbourhood Sequences in Non-standard Three-Dimensional Grids -- Fuzzy Distance Based Hierarchical Clustering Calculated Using the A??? Algorithm -- Image Representation and Segmentation -- A New Sub-pixel Map for Image Analysis -- Feature Based Defuzzification at Increased Spatial Resolution -- Extended Mumford-Shah Regularization in Bayesian Estimation for Blind Image Deconvolution and Segmentation -- Invited Paper -- Polygonal Approximation of Point Sets -- Approximations I -- Linear Discrete Line Recognition and Reconstruction Based on a Generalized Preimage -- Digital Line Recognition, Convex Hull, Thickness, a Unified and Logarithmic Technique -- Incremental and Transitive Discrete Rotations -- Digital Topology -- Discrete Homotopy of a Closed k-Surface -- Topology Preserving Digitization with FCC and BCC Grids -- On the Notion of Dimension in Digital Spaces -- Shape and Matching -- Size and Shape Measure of Particles by Image Analysis -- A Comparison of Shape Matching Methods for Contour Based Pose Estimation -- Relevance Criteria for Data Mining Using Error-Tolerant Graph Matching -- Invited Paper -- Computational Aspects of Digital Plane and Hyperplane Recognition -- Approximations II -- A Linear Algorithm for Polygonal Representations of Digital Sets -- The Monogenic Curvature Scale-Space -- Combinatorics and Grammars -- Combinatorial Properties of Scale Space Singular Points -- Additive Subsets -- Cooperating Basic Puzzle Grammar Systems -- Tomography -- Quasi-isometric and Quasi-conformal Development of Triangulated Surfaces for Computerized Tomography -- Binary Tomography with Deblurring -- A Neural Network Approach to Real-Time Discrete Tomography -- Poster Session -- A Novel Automated Hand-Based Personal Identification -- Shortest Paths in a Cuboidal World -- Surface Registration Markers from Range Scan Data -- Two-Dimensional Discrete Shape Matching and Recognition -- Hierarchical Tree of Image Derived by Diffusion Filtering -- Object Tracking Using Genetic Evolution Based Kernel Particle Filter -- An Efficient Reconstruction of 2D-Tiling with t 1,2, t 2,1, t 1,1 Tiles.
Altri titoli varianti IWCIA 2006
Record Nr. UNINA-9910484966203321
Berlin, : Springer, 2006
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Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren [[electronic resource] /] / Herbert Jahn, Ralf Reulke
Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren [[electronic resource] /] / Herbert Jahn, Ralf Reulke
Autore Jahn Herbert
Pubbl/distr/stampa Berlin, : Akademie Verlag, c1995
Descrizione fisica 1 online resource (302 p.)
Altri autori (Persone) ReulkeRalf
Soggetto topico Optoelectronic devices
Optical detectors
Soggetto genere / forma Electronic books.
ISBN 1-282-28020-1
9786612280207
3-527-62590-9
3-527-62591-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Nota di contenuto Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren; Inhaltsverzeichnis; I Signalmodelle; I.1 Einführende Bemerkungen; I.2 Signal- und systemtheoretische Grundlagen; I.2.1 Kontinuierliche lineare 1-D-Systeme; I.2.2 Diskrete lineare 1D-Systeme; I.2.3 Lineare Systeme mit mehreren Ein- und Ausgängen; I.2.4 Nichtlineare Systeme; I.2.5 Kontinuierliche lineare 2D-Systeme; I.2.6 Diskrete lineare 2D-Systeme; I.2.7 1D-Zustandsmodelle; I.2.8 2D-Zustandsmodelle; I.2.9 Zustandsmodelle und analytische Funktionen; I.3 Zufallsprozesse und Zufallsfelder; I.3.1 Zufallsgrößen und unbekannte feste Größen
I.3.2 Zufallsprozesse und ZufallsfolgenI.3.3 Markow-Prozesse, Markow-Folgen und ARMA-Modelle; I.3.4 Zufallsfelder; I.4 Funktionen mit finitem Spektrum; I.4.1 1D-Funktionen; I.4.2 2D-Funktionen; II Systemtheoretische Beschreibung der optischen Signalwandlung; II.1 Systemtheoretische Formulierung der optischen Abbildung; II.2 Verfahren zur Bestimmung der inkohärenten optischen Transferfunktion; 1. PSF-Messung aus der Untersuchung der Dämpfung bekannter räumlicher Signale; PSF - Messung an einem Infrarot-(IR-) Aufnahmesystem; LSF - Messung an WAOSS
Bestimmung der PSF aus der KantenverschmierungsfunktionOTF - Messungen mit periodischen Strukturen; 2. OTF-Messung aus dem Autokorrelationsintegral der Pupillenfunktion; 3. Die Messung des Quadrats der MTF aus dem Wienerspektrum; II.3 Optische Fouriertransformation; II.4 Transformation strahlungstheoretischer Größen bei der optischen Abbildung; III Signalwandelnde Eigenschaften von Strahlungsdetektoren; III.1 Systemtheoretische Beschreibung von Detektoren; III.2 Rauschen in Strahlungsdetektoren; III.3 Analogelektronische Wandlung von Detektorsignalen
III.4 Simulation von FernerkundungssystemenOptik, homogene Koordinaten und Ray Tracing; Homogene Koordinaten; Zusammengesetzte Abbildung; Ray-Tracing und optische Abbildung; Ray-Tracing im digitalen Höhenmodell; Literatur; Sachwortverzeichnis
Record Nr. UNINA-9910139751503321
Jahn Herbert  
Berlin, : Akademie Verlag, c1995
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Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren [[electronic resource] /] / Herbert Jahn, Ralf Reulke
Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren [[electronic resource] /] / Herbert Jahn, Ralf Reulke
Autore Jahn Herbert
Pubbl/distr/stampa Berlin, : Akademie Verlag, c1995
Descrizione fisica 1 online resource (302 p.)
Altri autori (Persone) ReulkeRalf
Soggetto topico Optoelectronic devices
Optical detectors
ISBN 1-282-28020-1
9786612280207
3-527-62590-9
3-527-62591-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Nota di contenuto Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren; Inhaltsverzeichnis; I Signalmodelle; I.1 Einführende Bemerkungen; I.2 Signal- und systemtheoretische Grundlagen; I.2.1 Kontinuierliche lineare 1-D-Systeme; I.2.2 Diskrete lineare 1D-Systeme; I.2.3 Lineare Systeme mit mehreren Ein- und Ausgängen; I.2.4 Nichtlineare Systeme; I.2.5 Kontinuierliche lineare 2D-Systeme; I.2.6 Diskrete lineare 2D-Systeme; I.2.7 1D-Zustandsmodelle; I.2.8 2D-Zustandsmodelle; I.2.9 Zustandsmodelle und analytische Funktionen; I.3 Zufallsprozesse und Zufallsfelder; I.3.1 Zufallsgrößen und unbekannte feste Größen
I.3.2 Zufallsprozesse und ZufallsfolgenI.3.3 Markow-Prozesse, Markow-Folgen und ARMA-Modelle; I.3.4 Zufallsfelder; I.4 Funktionen mit finitem Spektrum; I.4.1 1D-Funktionen; I.4.2 2D-Funktionen; II Systemtheoretische Beschreibung der optischen Signalwandlung; II.1 Systemtheoretische Formulierung der optischen Abbildung; II.2 Verfahren zur Bestimmung der inkohärenten optischen Transferfunktion; 1. PSF-Messung aus der Untersuchung der Dämpfung bekannter räumlicher Signale; PSF - Messung an einem Infrarot-(IR-) Aufnahmesystem; LSF - Messung an WAOSS
Bestimmung der PSF aus der KantenverschmierungsfunktionOTF - Messungen mit periodischen Strukturen; 2. OTF-Messung aus dem Autokorrelationsintegral der Pupillenfunktion; 3. Die Messung des Quadrats der MTF aus dem Wienerspektrum; II.3 Optische Fouriertransformation; II.4 Transformation strahlungstheoretischer Größen bei der optischen Abbildung; III Signalwandelnde Eigenschaften von Strahlungsdetektoren; III.1 Systemtheoretische Beschreibung von Detektoren; III.2 Rauschen in Strahlungsdetektoren; III.3 Analogelektronische Wandlung von Detektorsignalen
III.4 Simulation von FernerkundungssystemenOptik, homogene Koordinaten und Ray Tracing; Homogene Koordinaten; Zusammengesetzte Abbildung; Ray-Tracing und optische Abbildung; Ray-Tracing im digitalen Höhenmodell; Literatur; Sachwortverzeichnis
Record Nr. UNISA-996210331503316
Jahn Herbert  
Berlin, : Akademie Verlag, c1995
Materiale a stampa
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Opac: Controlla la disponibilità qui
Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren [[electronic resource] /] / Herbert Jahn, Ralf Reulke
Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren [[electronic resource] /] / Herbert Jahn, Ralf Reulke
Autore Jahn Herbert
Pubbl/distr/stampa Berlin, : Akademie Verlag, c1995
Descrizione fisica 1 online resource (302 p.)
Altri autori (Persone) ReulkeRalf
Soggetto topico Optoelectronic devices
Optical detectors
ISBN 1-282-28020-1
9786612280207
3-527-62590-9
3-527-62591-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Nota di contenuto Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren; Inhaltsverzeichnis; I Signalmodelle; I.1 Einführende Bemerkungen; I.2 Signal- und systemtheoretische Grundlagen; I.2.1 Kontinuierliche lineare 1-D-Systeme; I.2.2 Diskrete lineare 1D-Systeme; I.2.3 Lineare Systeme mit mehreren Ein- und Ausgängen; I.2.4 Nichtlineare Systeme; I.2.5 Kontinuierliche lineare 2D-Systeme; I.2.6 Diskrete lineare 2D-Systeme; I.2.7 1D-Zustandsmodelle; I.2.8 2D-Zustandsmodelle; I.2.9 Zustandsmodelle und analytische Funktionen; I.3 Zufallsprozesse und Zufallsfelder; I.3.1 Zufallsgrößen und unbekannte feste Größen
I.3.2 Zufallsprozesse und ZufallsfolgenI.3.3 Markow-Prozesse, Markow-Folgen und ARMA-Modelle; I.3.4 Zufallsfelder; I.4 Funktionen mit finitem Spektrum; I.4.1 1D-Funktionen; I.4.2 2D-Funktionen; II Systemtheoretische Beschreibung der optischen Signalwandlung; II.1 Systemtheoretische Formulierung der optischen Abbildung; II.2 Verfahren zur Bestimmung der inkohärenten optischen Transferfunktion; 1. PSF-Messung aus der Untersuchung der Dämpfung bekannter räumlicher Signale; PSF - Messung an einem Infrarot-(IR-) Aufnahmesystem; LSF - Messung an WAOSS
Bestimmung der PSF aus der KantenverschmierungsfunktionOTF - Messungen mit periodischen Strukturen; 2. OTF-Messung aus dem Autokorrelationsintegral der Pupillenfunktion; 3. Die Messung des Quadrats der MTF aus dem Wienerspektrum; II.3 Optische Fouriertransformation; II.4 Transformation strahlungstheoretischer Größen bei der optischen Abbildung; III Signalwandelnde Eigenschaften von Strahlungsdetektoren; III.1 Systemtheoretische Beschreibung von Detektoren; III.2 Rauschen in Strahlungsdetektoren; III.3 Analogelektronische Wandlung von Detektorsignalen
III.4 Simulation von FernerkundungssystemenOptik, homogene Koordinaten und Ray Tracing; Homogene Koordinaten; Zusammengesetzte Abbildung; Ray-Tracing und optische Abbildung; Ray-Tracing im digitalen Höhenmodell; Literatur; Sachwortverzeichnis
Record Nr. UNINA-9910830843603321
Jahn Herbert  
Berlin, : Akademie Verlag, c1995
Materiale a stampa
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Opac: Controlla la disponibilità qui
Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren / / Herbert Jahn, Ralf Reulke
Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren / / Herbert Jahn, Ralf Reulke
Autore Jahn Herbert
Pubbl/distr/stampa Berlin, : Akademie Verlag, c1995
Descrizione fisica 1 online resource (302 p.)
Altri autori (Persone) ReulkeRalf
Soggetto topico Optoelectronic devices
Optical detectors
ISBN 1-282-28020-1
9786612280207
3-527-62590-9
3-527-62591-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Nota di contenuto Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren; Inhaltsverzeichnis; I Signalmodelle; I.1 Einführende Bemerkungen; I.2 Signal- und systemtheoretische Grundlagen; I.2.1 Kontinuierliche lineare 1-D-Systeme; I.2.2 Diskrete lineare 1D-Systeme; I.2.3 Lineare Systeme mit mehreren Ein- und Ausgängen; I.2.4 Nichtlineare Systeme; I.2.5 Kontinuierliche lineare 2D-Systeme; I.2.6 Diskrete lineare 2D-Systeme; I.2.7 1D-Zustandsmodelle; I.2.8 2D-Zustandsmodelle; I.2.9 Zustandsmodelle und analytische Funktionen; I.3 Zufallsprozesse und Zufallsfelder; I.3.1 Zufallsgrößen und unbekannte feste Größen
I.3.2 Zufallsprozesse und ZufallsfolgenI.3.3 Markow-Prozesse, Markow-Folgen und ARMA-Modelle; I.3.4 Zufallsfelder; I.4 Funktionen mit finitem Spektrum; I.4.1 1D-Funktionen; I.4.2 2D-Funktionen; II Systemtheoretische Beschreibung der optischen Signalwandlung; II.1 Systemtheoretische Formulierung der optischen Abbildung; II.2 Verfahren zur Bestimmung der inkohärenten optischen Transferfunktion; 1. PSF-Messung aus der Untersuchung der Dämpfung bekannter räumlicher Signale; PSF - Messung an einem Infrarot-(IR-) Aufnahmesystem; LSF - Messung an WAOSS
Bestimmung der PSF aus der KantenverschmierungsfunktionOTF - Messungen mit periodischen Strukturen; 2. OTF-Messung aus dem Autokorrelationsintegral der Pupillenfunktion; 3. Die Messung des Quadrats der MTF aus dem Wienerspektrum; II.3 Optische Fouriertransformation; II.4 Transformation strahlungstheoretischer Größen bei der optischen Abbildung; III Signalwandelnde Eigenschaften von Strahlungsdetektoren; III.1 Systemtheoretische Beschreibung von Detektoren; III.2 Rauschen in Strahlungsdetektoren; III.3 Analogelektronische Wandlung von Detektorsignalen
III.4 Simulation von FernerkundungssystemenOptik, homogene Koordinaten und Ray Tracing; Homogene Koordinaten; Zusammengesetzte Abbildung; Ray-Tracing und optische Abbildung; Ray-Tracing im digitalen Höhenmodell; Literatur; Sachwortverzeichnis
Record Nr. UNINA-9910877763403321
Jahn Herbert  
Berlin, : Akademie Verlag, c1995
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui