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A Practical Guide to Surface Metrology / Michael Quinten
A Practical Guide to Surface Metrology / Michael Quinten
Autore Quinten, Michael
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2019
Descrizione fisica xxv, 230 p. : ill. ; 24 cm
Soggetto topico 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020]
78A60 - Lasers, masers, optical bistability, nonlinear optics [MSC 2020]
74K35 - Thin films [MSC 2020]
74A50 - Structured surfaces and interfaces, coexistent phases [MSC 2020]
Soggetto non controllato Confocal optical profiling
Digital Holographic Microscopy
Elastic light scattering
Grazing incidence interferometry
Light sectional methods
Multi-wavelength interferometry
Practical surface characterisation
Practical surface measurement
Scanning nearfield optical microscopy
Shearing interferometry
Spectral Reflectometry and Ellipsometry
Surface optical metrology
White light interferometry
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0214455
Quinten, Michael  
Cham, : Springer, 2019
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
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Electromagnetic and light scattering, Theory and applications. Proceedings of the 1st workshop on Electromagnetic and LightScattering, theory and applications, March 18-19, 1996, Bremen, Germany / Thomas Wriedt, Michael Quinten, Klaus Bauckhage, editors
Electromagnetic and light scattering, Theory and applications. Proceedings of the 1st workshop on Electromagnetic and LightScattering, theory and applications, March 18-19, 1996, Bremen, Germany / Thomas Wriedt, Michael Quinten, Klaus Bauckhage, editors
Pubbl/distr/stampa Bremen : Universitat Bremen, 1996
Descrizione fisica 146 p. ill. 23 cm
ISBN 3-88722-359-4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ita
Record Nr. UNINA-990000372460403321
Bremen : Universitat Bremen, 1996
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui