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Accomplishments in nanotechnology / / Michael T. Postek, Joseph Kopanski, David Wollman
Accomplishments in nanotechnology / / Michael T. Postek, Joseph Kopanski, David Wollman
Autore Postek Michael T
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2006
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) KopanskiJoseph
PostekMichael T
WollmanDavid
Collana NIST special publication
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910709540703321
Postek Michael T  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2006
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Low accelerating voltage pitch standard based on the modification of NBS SRM 484 / / Michael T. Postek
Low accelerating voltage pitch standard based on the modification of NBS SRM 484 / / Michael T. Postek
Autore Postek Michael T
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1987
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) PostekMichael T
Collana NBSIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910709904903321
Postek Michael T  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1987
Materiale a stampa
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Shape-sensitive linewidth measurements of resist structures : LITG410I project / / John S. Villarrubia; Andras E. Vladar; Michael T. Postek
Shape-sensitive linewidth measurements of resist structures : LITG410I project / / John S. Villarrubia; Andras E. Vladar; Michael T. Postek
Autore Villarrubia John S
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2004
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) PostekMichael T
VillarrubiaJohn S
VladárAndrás E
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Shape-sensitive linewidth measurements of resist structures
Record Nr. UNINA-9910710774703321
Villarrubia John S  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2004
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui