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Design for Manufacturability with Advanced Lithography / / by Bei Yu, David Z. Pan
Design for Manufacturability with Advanced Lithography / / by Bei Yu, David Z. Pan
Autore Yu Bei
Edizione [1st ed. 2016.]
Pubbl/distr/stampa Cham : , : Springer International Publishing : , : Imprint : Springer, , 2016
Descrizione fisica 1 online resource (173 p.)
Disciplina 620
Soggetto topico Electronic circuits
Microprocessors
Electronics
Microelectronics
Circuits and Systems
Processor Architectures
Electronics and Microelectronics, Instrumentation
ISBN 3-319-20385-1
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto Introduction -- Layout Decomposition for Triple Patterning -- Layout Decomposition for Other Patterning Techniques -- Standard Cell Compliance and Placement Co-Optimization -- Design for Manufacturability with E-Beam Lithography -- Conclusions and Future Works.-.
Record Nr. UNINA-9910254227003321
Yu Bei  
Cham : , : Springer International Publishing : , : Imprint : Springer, , 2016
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
A Synergistic Framework for Hardware IP Privacy and Integrity Protection / / by Meng Li, David Z. Pan
A Synergistic Framework for Hardware IP Privacy and Integrity Protection / / by Meng Li, David Z. Pan
Autore Li Meng
Edizione [1st ed. 2020.]
Pubbl/distr/stampa Cham : , : Springer International Publishing : , : Imprint : Springer, , 2020
Descrizione fisica 1 online resource (IX, 139 p. 74 illus., 67 illus. in color.)
Disciplina 005.8
Soggetto topico Electronic circuits
Computer engineering
Internet of things
Embedded computer systems
Microprocessors
Circuits and Systems
Cyber-physical systems, IoT
Processor Architectures
ISBN 3-030-41247-4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto Introduction -- Practical Split Manufacturing Optimization -- IC Camouflaging Optimization and Evaluation -- Fault Attack Protection and Evaluation -- Conclusion.
Record Nr. UNINA-9910392741003321
Li Meng  
Cham : , : Springer International Publishing : , : Imprint : Springer, , 2020
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui