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Fehlerfrei durch die ICP Emissionsspektrometrie [[electronic resource] /] / Joachim Nölte
Fehlerfrei durch die ICP Emissionsspektrometrie [[electronic resource] /] / Joachim Nölte
Autore Nölte Joachim
Edizione [1. Aufl.]
Pubbl/distr/stampa Weinheim, : Wiley-VCH, 2012
Descrizione fisica 1 online resource (212 p.)
Disciplina 543.52
Soggetto topico Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
Soggetto genere / forma Electronic books.
ISBN 3-527-64780-5
3-527-64781-3
3-527-64778-3
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Nota di contenuto 3.2 Kalibrierfunktion3.3 Die Messwerte sind falsch; 3.4 Die Messwerte schwanken (schlechte Präzision oder Drift); 3.5 Merkwürdige Peaks; 3.6 Hardware; 3.7 Gefahr im Verzug; 3.8 Bekannte Problemfälle; 4 Stichwortverzeichnis
Record Nr. UNINA-9910133836903321
Nölte Joachim  
Weinheim, : Wiley-VCH, 2012
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Fehlerfrei durch die ICP Emissionsspektrometrie [[electronic resource] /] / Joachim Nölte
Fehlerfrei durch die ICP Emissionsspektrometrie [[electronic resource] /] / Joachim Nölte
Autore Nölte Joachim
Edizione [1. Aufl.]
Pubbl/distr/stampa Weinheim, : Wiley-VCH, 2012
Descrizione fisica 1 online resource (212 p.)
Disciplina 543.52
Soggetto topico Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
ISBN 3-527-64780-5
3-527-64781-3
3-527-64778-3
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Nota di contenuto 3.2 Kalibrierfunktion3.3 Die Messwerte sind falsch; 3.4 Die Messwerte schwanken (schlechte Präzision oder Drift); 3.5 Merkwürdige Peaks; 3.6 Hardware; 3.7 Gefahr im Verzug; 3.8 Bekannte Problemfälle; 4 Stichwortverzeichnis
Record Nr. UNINA-9910830931003321
Nölte Joachim  
Weinheim, : Wiley-VCH, 2012
Materiale a stampa
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ICP emission spectrometry : a practical guide / / Joachim Nölte
ICP emission spectrometry : a practical guide / / Joachim Nölte
Autore Nölte Joachim
Edizione [Second edition.]
Pubbl/distr/stampa Weinheim, Germany : , : Wiley-VCH, , [2021]
Descrizione fisica 1 online resource (291 pages)
Disciplina 543.6
Soggetto topico Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
Soggetto genere / forma Electronic books.
ISBN 3-527-82364-6
3-527-82362-X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910555265403321
Nölte Joachim  
Weinheim, Germany : , : Wiley-VCH, , [2021]
Materiale a stampa
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ICP emission spectrometry : a practical guide / / Joachim Nölte
ICP emission spectrometry : a practical guide / / Joachim Nölte
Autore Nölte Joachim
Edizione [Second edition.]
Pubbl/distr/stampa Weinheim, Germany : , : Wiley-VCH, , [2021]
Descrizione fisica 1 online resource (291 pages)
Disciplina 543.6
Soggetto topico Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
ISBN 3-527-82364-6
3-527-82362-X
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910830009903321
Nölte Joachim  
Weinheim, Germany : , : Wiley-VCH, , [2021]
Materiale a stampa
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ICP Emissionsspektrometrie Für Praktiker : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele
ICP Emissionsspektrometrie Für Praktiker : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele
Autore Nölte Joachim
Edizione [2nd ed.]
Pubbl/distr/stampa Newark : , : John Wiley & Sons, Incorporated, , 2020
Descrizione fisica 1 online resource (287 pages)
Soggetto genere / forma Electronic books.
ISBN 3-527-82365-4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Nota di contenuto Cover -- Titelseite -- Impressum -- Inhaltsverzeichnis -- Vorwort zur 2. Auflage -- Vorwort zur 1. Auflage -- Verzeichnis der Abkürzungen -- 1 Ein Überblick -- 1.1 Analytische Merkmale der ICP OES -- 1.2 ICP OES - nomen est omen -- 1.3 Verbreitung der ICP OES -- 1.4 Weitere Techniken zur Elementanalytik -- 1.5 Begriffe -- 2 Plasma -- 2.1 Das analytisch genutzte Plasma -- 2.1.1 Betriebsgas -- 2.1.2 Plasmafackel -- 2.1.3 Zünden des Plasmas -- 2.1.4 Orientierung des Plasmas bzw. der Fackel -- 2.2 Anregung zur Emission von elektromagnetischer Strahlung -- 2.2.1 Emissionslinien -- 2.2.2 Energie und Temperatur -- 2.2.3 Spektroskopische Eigenschaften des ICP -- 2.2.4 Plasmabeobachtung -- 2.3 Anregungseinheit -- 2.3.1 Hochfrequenzgenerator -- 2.3.2 Induktionsspule -- 2.4 Probeneinführungssystem -- 2.4.1 Zerstäuber -- 2.4.2 Zerstäuberkammer -- 2.4.3 Pumpe -- 2.4.4 Sonstige Formen des Probeneintrags -- 3 Optik und Detektor des Spektrometers -- 3.1 Optische Grundlagen -- 3.1.1 Auflösung -- 3.1.2 Relevante Grundbegriffe der Optik -- 3.1.3 Optische Aufbauten -- 3.1.4 Lichttransfer vom Plasma zur Optik -- 3.2 Detektor -- 3.2.1 Photomultiplier-Tube (PMT) -- 3.2.2 Halbleiterdetektoren -- 3.3 Apparativer Aufbau eines Emissionsspektrometers -- 3.3.1 Klassische Spektrometer -- 3.3.2 Array-Spektrometer -- 4 Methodenentwicklung -- 4.1 Wellenlängenauswahl -- 4.1.1 Arbeitsbereich -- 4.1.2 Spektrale Störfreiheit -- 4.2 Auswerte- und Korrekturtechniken -- 4.2.1 Signalauswertung -- 4.2.2 Untergrundkorrektur -- 4.2.3 Einfluss der Peakauswertung und Untergrundkorrektur auf die Nachweisgrenzen -- 4.2.4 Korrektur spektraler Störungen -- 4.3 Nicht-spektrale Störungen -- 4.3.1 Korrektur nicht-spektraler Störungen -- 4.4 Optimierung -- 4.4.1 Optimierungsziele -- 4.4.2 Optimierungsparameter -- 4.4.3 Optimierungsalgorithmen -- 4.5 Validierung -- 4.5.1 Richtigkeit und Spezifität.
4.5.2 Wiederholbarkeit -- 4.5.3 Nachweisgrenze -- 4.5.4 Arbeitsbereich -- 4.5.5 Robustheit -- 5 Routineanalyse -- 5.1 Vorbereitung -- 5.1.1 Probenvorbereitung -- 5.1.2 Einbrennzeit -- 5.1.3 Spülzeiten -- 5.2 Kalibrieren -- 5.2.1 Bezugslösungen -- 5.2.2 Kalibrierfunktionen -- 5.2.3 Bewerten der Kalibrierung -- 5.3 Analytische Qualitätssicherung -- 5.4 Software und Datenbearbeitung -- 6 Fehler: Ursachen finden und vermeiden -- 7 Anwendungen -- 7.1 Allgemeine Hinweise -- 7.1.1 Gefäßmaterial -- 7.1.2 Stabilität von Lösungen -- 7.1.3 Matrixeffekte -- 7.1.4 Kontaminationen -- 7.2 Hinweise zu einzelnen Elementen -- 7.3 Ausgewählte Anwendungen -- 7.3.1 Umwelt -- 7.3.2 Proben biologischen Ursprungs -- 7.3.3 Geologisches Material -- 7.3.4 Metallurgie -- 7.3.5 Materialwissenschaften -- 7.3.6 Industrielle Anwendungen -- 7.3.7 Organische Lösungsmittel -- 8 Beschaffung und Laborvorbereitung -- 8.1 Welche atomspektrometrische Technik ist geeignet? -- 8.2 Welches ICP Emissionsspektrometer ist geeignet? -- 8.3 Vorbereitung des Labors -- Literatur -- Stichwortverzeichnis -- EULA.
Record Nr. UNINA-9910555017203321
Nölte Joachim  
Newark : , : John Wiley & Sons, Incorporated, , 2020
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ICP Emissionsspektrometrie Für Praktiker : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele
ICP Emissionsspektrometrie Für Praktiker : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele
Autore Nölte Joachim
Edizione [2nd ed.]
Pubbl/distr/stampa Newark : , : John Wiley & Sons, Incorporated, , 2020
Descrizione fisica 1 online resource (287 pages)
Disciplina 543.6
Soggetto topico Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
ISBN 3-527-82365-4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Nota di contenuto Cover -- Titelseite -- Impressum -- Inhaltsverzeichnis -- Vorwort zur 2. Auflage -- Vorwort zur 1. Auflage -- Verzeichnis der Abkürzungen -- 1 Ein Überblick -- 1.1 Analytische Merkmale der ICP OES -- 1.2 ICP OES - nomen est omen -- 1.3 Verbreitung der ICP OES -- 1.4 Weitere Techniken zur Elementanalytik -- 1.5 Begriffe -- 2 Plasma -- 2.1 Das analytisch genutzte Plasma -- 2.1.1 Betriebsgas -- 2.1.2 Plasmafackel -- 2.1.3 Zünden des Plasmas -- 2.1.4 Orientierung des Plasmas bzw. der Fackel -- 2.2 Anregung zur Emission von elektromagnetischer Strahlung -- 2.2.1 Emissionslinien -- 2.2.2 Energie und Temperatur -- 2.2.3 Spektroskopische Eigenschaften des ICP -- 2.2.4 Plasmabeobachtung -- 2.3 Anregungseinheit -- 2.3.1 Hochfrequenzgenerator -- 2.3.2 Induktionsspule -- 2.4 Probeneinführungssystem -- 2.4.1 Zerstäuber -- 2.4.2 Zerstäuberkammer -- 2.4.3 Pumpe -- 2.4.4 Sonstige Formen des Probeneintrags -- 3 Optik und Detektor des Spektrometers -- 3.1 Optische Grundlagen -- 3.1.1 Auflösung -- 3.1.2 Relevante Grundbegriffe der Optik -- 3.1.3 Optische Aufbauten -- 3.1.4 Lichttransfer vom Plasma zur Optik -- 3.2 Detektor -- 3.2.1 Photomultiplier-Tube (PMT) -- 3.2.2 Halbleiterdetektoren -- 3.3 Apparativer Aufbau eines Emissionsspektrometers -- 3.3.1 Klassische Spektrometer -- 3.3.2 Array-Spektrometer -- 4 Methodenentwicklung -- 4.1 Wellenlängenauswahl -- 4.1.1 Arbeitsbereich -- 4.1.2 Spektrale Störfreiheit -- 4.2 Auswerte- und Korrekturtechniken -- 4.2.1 Signalauswertung -- 4.2.2 Untergrundkorrektur -- 4.2.3 Einfluss der Peakauswertung und Untergrundkorrektur auf die Nachweisgrenzen -- 4.2.4 Korrektur spektraler Störungen -- 4.3 Nicht-spektrale Störungen -- 4.3.1 Korrektur nicht-spektraler Störungen -- 4.4 Optimierung -- 4.4.1 Optimierungsziele -- 4.4.2 Optimierungsparameter -- 4.4.3 Optimierungsalgorithmen -- 4.5 Validierung -- 4.5.1 Richtigkeit und Spezifität.
4.5.2 Wiederholbarkeit -- 4.5.3 Nachweisgrenze -- 4.5.4 Arbeitsbereich -- 4.5.5 Robustheit -- 5 Routineanalyse -- 5.1 Vorbereitung -- 5.1.1 Probenvorbereitung -- 5.1.2 Einbrennzeit -- 5.1.3 Spülzeiten -- 5.2 Kalibrieren -- 5.2.1 Bezugslösungen -- 5.2.2 Kalibrierfunktionen -- 5.2.3 Bewerten der Kalibrierung -- 5.3 Analytische Qualitätssicherung -- 5.4 Software und Datenbearbeitung -- 6 Fehler: Ursachen finden und vermeiden -- 7 Anwendungen -- 7.1 Allgemeine Hinweise -- 7.1.1 Gefäßmaterial -- 7.1.2 Stabilität von Lösungen -- 7.1.3 Matrixeffekte -- 7.1.4 Kontaminationen -- 7.2 Hinweise zu einzelnen Elementen -- 7.3 Ausgewählte Anwendungen -- 7.3.1 Umwelt -- 7.3.2 Proben biologischen Ursprungs -- 7.3.3 Geologisches Material -- 7.3.4 Metallurgie -- 7.3.5 Materialwissenschaften -- 7.3.6 Industrielle Anwendungen -- 7.3.7 Organische Lösungsmittel -- 8 Beschaffung und Laborvorbereitung -- 8.1 Welche atomspektrometrische Technik ist geeignet? -- 8.2 Welches ICP Emissionsspektrometer ist geeignet? -- 8.3 Vorbereitung des Labors -- Literatur -- Stichwortverzeichnis -- EULA.
Record Nr. UNINA-9910830914203321
Nölte Joachim  
Newark : , : John Wiley & Sons, Incorporated, , 2020
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Opac: Controlla la disponibilità qui
ICP Emissionsspektrometrie Für Praktiker : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele
ICP Emissionsspektrometrie Für Praktiker : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele
Autore Nölte Joachim
Edizione [2nd ed.]
Pubbl/distr/stampa Newark : , : John Wiley & Sons, Incorporated, , 2020
Descrizione fisica 1 online resource (287 pages)
Disciplina 543.6
Soggetto topico Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry
ISBN 3-527-82365-4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Nota di contenuto Cover -- Titelseite -- Impressum -- Inhaltsverzeichnis -- Vorwort zur 2. Auflage -- Vorwort zur 1. Auflage -- Verzeichnis der Abkürzungen -- 1 Ein Überblick -- 1.1 Analytische Merkmale der ICP OES -- 1.2 ICP OES - nomen est omen -- 1.3 Verbreitung der ICP OES -- 1.4 Weitere Techniken zur Elementanalytik -- 1.5 Begriffe -- 2 Plasma -- 2.1 Das analytisch genutzte Plasma -- 2.1.1 Betriebsgas -- 2.1.2 Plasmafackel -- 2.1.3 Zünden des Plasmas -- 2.1.4 Orientierung des Plasmas bzw. der Fackel -- 2.2 Anregung zur Emission von elektromagnetischer Strahlung -- 2.2.1 Emissionslinien -- 2.2.2 Energie und Temperatur -- 2.2.3 Spektroskopische Eigenschaften des ICP -- 2.2.4 Plasmabeobachtung -- 2.3 Anregungseinheit -- 2.3.1 Hochfrequenzgenerator -- 2.3.2 Induktionsspule -- 2.4 Probeneinführungssystem -- 2.4.1 Zerstäuber -- 2.4.2 Zerstäuberkammer -- 2.4.3 Pumpe -- 2.4.4 Sonstige Formen des Probeneintrags -- 3 Optik und Detektor des Spektrometers -- 3.1 Optische Grundlagen -- 3.1.1 Auflösung -- 3.1.2 Relevante Grundbegriffe der Optik -- 3.1.3 Optische Aufbauten -- 3.1.4 Lichttransfer vom Plasma zur Optik -- 3.2 Detektor -- 3.2.1 Photomultiplier-Tube (PMT) -- 3.2.2 Halbleiterdetektoren -- 3.3 Apparativer Aufbau eines Emissionsspektrometers -- 3.3.1 Klassische Spektrometer -- 3.3.2 Array-Spektrometer -- 4 Methodenentwicklung -- 4.1 Wellenlängenauswahl -- 4.1.1 Arbeitsbereich -- 4.1.2 Spektrale Störfreiheit -- 4.2 Auswerte- und Korrekturtechniken -- 4.2.1 Signalauswertung -- 4.2.2 Untergrundkorrektur -- 4.2.3 Einfluss der Peakauswertung und Untergrundkorrektur auf die Nachweisgrenzen -- 4.2.4 Korrektur spektraler Störungen -- 4.3 Nicht-spektrale Störungen -- 4.3.1 Korrektur nicht-spektraler Störungen -- 4.4 Optimierung -- 4.4.1 Optimierungsziele -- 4.4.2 Optimierungsparameter -- 4.4.3 Optimierungsalgorithmen -- 4.5 Validierung -- 4.5.1 Richtigkeit und Spezifität.
4.5.2 Wiederholbarkeit -- 4.5.3 Nachweisgrenze -- 4.5.4 Arbeitsbereich -- 4.5.5 Robustheit -- 5 Routineanalyse -- 5.1 Vorbereitung -- 5.1.1 Probenvorbereitung -- 5.1.2 Einbrennzeit -- 5.1.3 Spülzeiten -- 5.2 Kalibrieren -- 5.2.1 Bezugslösungen -- 5.2.2 Kalibrierfunktionen -- 5.2.3 Bewerten der Kalibrierung -- 5.3 Analytische Qualitätssicherung -- 5.4 Software und Datenbearbeitung -- 6 Fehler: Ursachen finden und vermeiden -- 7 Anwendungen -- 7.1 Allgemeine Hinweise -- 7.1.1 Gefäßmaterial -- 7.1.2 Stabilität von Lösungen -- 7.1.3 Matrixeffekte -- 7.1.4 Kontaminationen -- 7.2 Hinweise zu einzelnen Elementen -- 7.3 Ausgewählte Anwendungen -- 7.3.1 Umwelt -- 7.3.2 Proben biologischen Ursprungs -- 7.3.3 Geologisches Material -- 7.3.4 Metallurgie -- 7.3.5 Materialwissenschaften -- 7.3.6 Industrielle Anwendungen -- 7.3.7 Organische Lösungsmittel -- 8 Beschaffung und Laborvorbereitung -- 8.1 Welche atomspektrometrische Technik ist geeignet? -- 8.2 Welches ICP Emissionsspektrometer ist geeignet? -- 8.3 Vorbereitung des Labors -- Literatur -- Stichwortverzeichnis -- EULA.
Record Nr. UNINA-9910877744103321
Nölte Joachim  
Newark : , : John Wiley & Sons, Incorporated, , 2020
Materiale a stampa
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Opac: Controlla la disponibilità qui
ICP Emissionsspektrometrie für Praktiker [[electronic resource] ] : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele / / Joachim Nölte
ICP Emissionsspektrometrie für Praktiker [[electronic resource] ] : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele / / Joachim Nölte
Autore Nölte Joachim
Pubbl/distr/stampa Weinheim [Germany], : Wiley-VCH, c2002
Descrizione fisica 1 online resource (287 p.)
Disciplina 500
543.52
Soggetto topico Inductively coupled plasma spectrometry
Soggetto genere / forma Electronic books.
ISBN 3-527-66076-3
1-280-55976-4
9786610559763
3-527-66105-0
3-527-60333-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Nota di contenuto Title Page; Inhaltsverzeichnis; 1 Ein Überblick; 1.1 Analytische merkmale der icp oes; 1.2 ICP OESnomen est omen; 1.3 Verbreitung der ICP OES; 1.4 Weitere Techniken zur Elementanalytik; 1.5 Begriffe; 2 Plasma; 2.1 Das analytisch genutzte Plasma; 2.1.1 Betriebsgas; 2.1.2 Plasmafackel; 2.1.3 Zünden des Plasmas; 2.2 Anregung zur Emission von elektromagnetischer Strahlung; 2.2.1 Emissionslinien; 2.2.2 Energie und temperatur; 2.2.3 Spektroskopische Eigenschaften des ICP; 2.2.4 Plasmabeobachtung; 2.3 Hochfrequenzgenerator; 2.4 Probeneinführungssystem; 2.4.1 Zerstäuber; 2.4.2 Zerstäuberkammer
2.4.3 Pumpe2.4.4 Sonstige Formen des Probeneintrags; 3 Optik und Detektor des Spektrometers; 3.1 Optische Grundlagen; 3.1.1 Auflösung; 3.1.2 Relevante Grundbegriffe der Optik; 3.1.3 Optische Aufbauten; 3.1.4 Lichttransfer vom Plasma zur Optik; 3.2 Detektor; 3.2.1 Photomultiplier-Tube (PMT); 3.2.2 Halbleiterdetektoren; 3.3 Apparativer Aufbau eines Emissionsspektrometers; 3.3.1 Monochromatoren; 3.3.2 Polychromatoren; 3.3.3 Array-Spektrometer; 4 Methodenentwicklung; 4.1 Wellenlängenauswahl; 4.1.1 Arbeitsbereich; 4.1.2 Spektrale Störfreiheit; 4.2 Auswerte- und Korrekturtechniken
4.2.1 Signalauswertung4.2.2 Untergrundkorrektur; 4.2.3 Korrektur spektraler Störungen; 4.3 Nicht-spektrale Störungen; 4.3.1 Korrektur nicht-spektraler Störungen; 4.4 Optimierung; 4.4.1 Optimierungsziele; 4.4.2 Optimierungsparameter; 4.4.3 Optimierungsalgorithmen; 4.5 Validierung; 4.5.1 Richtigkeit und Spezifität; 4.5.2 Wiederholbarkeit; 4.5.3 Nachweisgrenze; 4.5.4 Arbeitsbereich; 4.5.5 Robustheit; 5 Routineanalyse; 5.1 Vorbereitung; 5.1.1 Probenvorbereitung; 5.1.2 Einbrennzeit; 5.1.3 Spülzeiten; 5.2 Kalibrieren; 5.2.1 Bezugslösungen; 5.2.2 Kalibrierfunktionen; 5,2.3 Bewerten der Kalibrierung
5.3 Analytische Qualitätssicherung5.4 Software und Datenbearbeitung; 6 Fehler: Ursachen finden und vermeiden; 7 Anwendungen; 7.1 Allgemeine Hinweise; 7.2 Hinweise zu einzelnen Elementen; 7.3 Ausgewählte Anwendungen; 7.3.1 Umwelt; 7.3.2 Proben biologischen Ursprungs; 7.3.3 Geologisches Material; 7.3.4 Metallurgie; 7.3.5 Materialwissenschaften; 7.3.6 Industrielle Anwendungen; 7.3.7. Organische Lösungsmittel; 8 Beschaffung und Laborvorbereitung; 8.1 Welche atomspektrometrische Technik ist geeignet?; 8.2 Welches ICP Emissionsspektrometer ist geeignet?; 8.3 Vorbereitung des Labors; 9 Literatur
Stichwortverzeichnis
Record Nr. UNINA-9910143994003321
Nölte Joachim  
Weinheim [Germany], : Wiley-VCH, c2002
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
ICP Emissionsspektrometrie für Praktiker [[electronic resource] ] : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele / / Joachim Nölte
ICP Emissionsspektrometrie für Praktiker [[electronic resource] ] : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele / / Joachim Nölte
Autore Nölte Joachim
Pubbl/distr/stampa Weinheim [Germany], : Wiley-VCH, c2002
Descrizione fisica 1 online resource (287 p.)
Disciplina 500
543.52
Soggetto topico Inductively coupled plasma spectrometry
ISBN 3-527-66076-3
1-280-55976-4
9786610559763
3-527-66105-0
3-527-60333-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Nota di contenuto Title Page; Inhaltsverzeichnis; 1 Ein Überblick; 1.1 Analytische merkmale der icp oes; 1.2 ICP OESnomen est omen; 1.3 Verbreitung der ICP OES; 1.4 Weitere Techniken zur Elementanalytik; 1.5 Begriffe; 2 Plasma; 2.1 Das analytisch genutzte Plasma; 2.1.1 Betriebsgas; 2.1.2 Plasmafackel; 2.1.3 Zünden des Plasmas; 2.2 Anregung zur Emission von elektromagnetischer Strahlung; 2.2.1 Emissionslinien; 2.2.2 Energie und temperatur; 2.2.3 Spektroskopische Eigenschaften des ICP; 2.2.4 Plasmabeobachtung; 2.3 Hochfrequenzgenerator; 2.4 Probeneinführungssystem; 2.4.1 Zerstäuber; 2.4.2 Zerstäuberkammer
2.4.3 Pumpe2.4.4 Sonstige Formen des Probeneintrags; 3 Optik und Detektor des Spektrometers; 3.1 Optische Grundlagen; 3.1.1 Auflösung; 3.1.2 Relevante Grundbegriffe der Optik; 3.1.3 Optische Aufbauten; 3.1.4 Lichttransfer vom Plasma zur Optik; 3.2 Detektor; 3.2.1 Photomultiplier-Tube (PMT); 3.2.2 Halbleiterdetektoren; 3.3 Apparativer Aufbau eines Emissionsspektrometers; 3.3.1 Monochromatoren; 3.3.2 Polychromatoren; 3.3.3 Array-Spektrometer; 4 Methodenentwicklung; 4.1 Wellenlängenauswahl; 4.1.1 Arbeitsbereich; 4.1.2 Spektrale Störfreiheit; 4.2 Auswerte- und Korrekturtechniken
4.2.1 Signalauswertung4.2.2 Untergrundkorrektur; 4.2.3 Korrektur spektraler Störungen; 4.3 Nicht-spektrale Störungen; 4.3.1 Korrektur nicht-spektraler Störungen; 4.4 Optimierung; 4.4.1 Optimierungsziele; 4.4.2 Optimierungsparameter; 4.4.3 Optimierungsalgorithmen; 4.5 Validierung; 4.5.1 Richtigkeit und Spezifität; 4.5.2 Wiederholbarkeit; 4.5.3 Nachweisgrenze; 4.5.4 Arbeitsbereich; 4.5.5 Robustheit; 5 Routineanalyse; 5.1 Vorbereitung; 5.1.1 Probenvorbereitung; 5.1.2 Einbrennzeit; 5.1.3 Spülzeiten; 5.2 Kalibrieren; 5.2.1 Bezugslösungen; 5.2.2 Kalibrierfunktionen; 5,2.3 Bewerten der Kalibrierung
5.3 Analytische Qualitätssicherung5.4 Software und Datenbearbeitung; 6 Fehler: Ursachen finden und vermeiden; 7 Anwendungen; 7.1 Allgemeine Hinweise; 7.2 Hinweise zu einzelnen Elementen; 7.3 Ausgewählte Anwendungen; 7.3.1 Umwelt; 7.3.2 Proben biologischen Ursprungs; 7.3.3 Geologisches Material; 7.3.4 Metallurgie; 7.3.5 Materialwissenschaften; 7.3.6 Industrielle Anwendungen; 7.3.7. Organische Lösungsmittel; 8 Beschaffung und Laborvorbereitung; 8.1 Welche atomspektrometrische Technik ist geeignet?; 8.2 Welches ICP Emissionsspektrometer ist geeignet?; 8.3 Vorbereitung des Labors; 9 Literatur
Stichwortverzeichnis
Record Nr. UNINA-9910830726603321
Nölte Joachim  
Weinheim [Germany], : Wiley-VCH, c2002
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
ICP Emissionsspektrometrie für Praktiker : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele / / Joachim Nölte
ICP Emissionsspektrometrie für Praktiker : Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele / / Joachim Nölte
Autore Nölte Joachim
Pubbl/distr/stampa Weinheim [Germany], : Wiley-VCH, c2002
Descrizione fisica 1 online resource (287 p.)
Disciplina 500
543.52
Soggetto topico Inductively coupled plasma spectrometry
ISBN 3-527-66076-3
1-280-55976-4
9786610559763
3-527-66105-0
3-527-60333-6
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ger
Nota di contenuto Title Page; Inhaltsverzeichnis; 1 Ein Überblick; 1.1 Analytische merkmale der icp oes; 1.2 ICP OESnomen est omen; 1.3 Verbreitung der ICP OES; 1.4 Weitere Techniken zur Elementanalytik; 1.5 Begriffe; 2 Plasma; 2.1 Das analytisch genutzte Plasma; 2.1.1 Betriebsgas; 2.1.2 Plasmafackel; 2.1.3 Zünden des Plasmas; 2.2 Anregung zur Emission von elektromagnetischer Strahlung; 2.2.1 Emissionslinien; 2.2.2 Energie und temperatur; 2.2.3 Spektroskopische Eigenschaften des ICP; 2.2.4 Plasmabeobachtung; 2.3 Hochfrequenzgenerator; 2.4 Probeneinführungssystem; 2.4.1 Zerstäuber; 2.4.2 Zerstäuberkammer
2.4.3 Pumpe2.4.4 Sonstige Formen des Probeneintrags; 3 Optik und Detektor des Spektrometers; 3.1 Optische Grundlagen; 3.1.1 Auflösung; 3.1.2 Relevante Grundbegriffe der Optik; 3.1.3 Optische Aufbauten; 3.1.4 Lichttransfer vom Plasma zur Optik; 3.2 Detektor; 3.2.1 Photomultiplier-Tube (PMT); 3.2.2 Halbleiterdetektoren; 3.3 Apparativer Aufbau eines Emissionsspektrometers; 3.3.1 Monochromatoren; 3.3.2 Polychromatoren; 3.3.3 Array-Spektrometer; 4 Methodenentwicklung; 4.1 Wellenlängenauswahl; 4.1.1 Arbeitsbereich; 4.1.2 Spektrale Störfreiheit; 4.2 Auswerte- und Korrekturtechniken
4.2.1 Signalauswertung4.2.2 Untergrundkorrektur; 4.2.3 Korrektur spektraler Störungen; 4.3 Nicht-spektrale Störungen; 4.3.1 Korrektur nicht-spektraler Störungen; 4.4 Optimierung; 4.4.1 Optimierungsziele; 4.4.2 Optimierungsparameter; 4.4.3 Optimierungsalgorithmen; 4.5 Validierung; 4.5.1 Richtigkeit und Spezifität; 4.5.2 Wiederholbarkeit; 4.5.3 Nachweisgrenze; 4.5.4 Arbeitsbereich; 4.5.5 Robustheit; 5 Routineanalyse; 5.1 Vorbereitung; 5.1.1 Probenvorbereitung; 5.1.2 Einbrennzeit; 5.1.3 Spülzeiten; 5.2 Kalibrieren; 5.2.1 Bezugslösungen; 5.2.2 Kalibrierfunktionen; 5,2.3 Bewerten der Kalibrierung
5.3 Analytische Qualitätssicherung5.4 Software und Datenbearbeitung; 6 Fehler: Ursachen finden und vermeiden; 7 Anwendungen; 7.1 Allgemeine Hinweise; 7.2 Hinweise zu einzelnen Elementen; 7.3 Ausgewählte Anwendungen; 7.3.1 Umwelt; 7.3.2 Proben biologischen Ursprungs; 7.3.3 Geologisches Material; 7.3.4 Metallurgie; 7.3.5 Materialwissenschaften; 7.3.6 Industrielle Anwendungen; 7.3.7. Organische Lösungsmittel; 8 Beschaffung und Laborvorbereitung; 8.1 Welche atomspektrometrische Technik ist geeignet?; 8.2 Welches ICP Emissionsspektrometer ist geeignet?; 8.3 Vorbereitung des Labors; 9 Literatur
Stichwortverzeichnis
Record Nr. UNINA-9910877654403321
Nölte Joachim  
Weinheim [Germany], : Wiley-VCH, c2002
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