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Surface and interface characterization by electron optical methods / edited by A. Howie and U. Valdrè



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Autore: NATO Advanced Study Institute on the study of surfaces and interfaces by electron optical techniques <1987 ; Erice, Italy> Visualizza persona
Titolo: Surface and interface characterization by electron optical methods / edited by A. Howie and U. Valdrè Visualizza cluster
Pubblicazione: New York : Plenum Press : Published in cooperation with the NATO Scientific Affairs Division, c1988
Descrizione fisica: viii, 319 p. : ill. (some col.) ; 26 cm.
Soggetto topico: Electron microscope, transmission - Congresses
Electron microscopy - Congresses
Surfaces (Physics)-Technique - Congresses
Classificazione: 530.4'1
QC173.4
Altri autori: Howie, A.  
Valdrè, U.  
Note generali: "Proceedings of a NATO Advanced Study Institute on the study of surfaces and interfaces by electron optical techniques, held April 4-15, 1987, in Erice, Sicily, Italy"--T.p. verso.
Includes bibliographies and index.
ISBN: 030643086X
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 991001281069707536
Lo trovi qui: Univ. del Salento
Opac: Controlla la disponibilità qui
Serie: NATO ASI Series. Series B, Physics ; 191