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Proceedings of the 2002 ACM SIGMETRICS International Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems



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Autore: Muntz Richard Visualizza persona
Titolo: Proceedings of the 2002 ACM SIGMETRICS International Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems Visualizza cluster
Pubblicazione: [Place of publication not identified], : ACM, 2002
Descrizione fisica: 1 online resource (299 pages)
Soggetto topico: Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Telecommunications
Persona (resp. second.): MartonosiMargaret
MuntzRichard
Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Altri titoli varianti: Proceedings of the 2002 Association for Computing Machinery Special Interest Group on Measurement and Evaluation International Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems
SIGMETRICS '02 the International Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems, Marina del Rey, CA, USA - June 15 - 19, 2002
Titolo autorizzato: Proceedings of the 2002 ACM SIGMETRICS International Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910376238803321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Serie: ACM Conferences