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Fundamentals of Friction and Wear on the Nanoscale / / edited by Enrico Gnecco, Ernst Meyer
Fundamentals of Friction and Wear on the Nanoscale / / edited by Enrico Gnecco, Ernst Meyer
Edizione [2nd ed. 2015.]
Pubbl/distr/stampa Cham : , : Springer International Publishing : , : Imprint : Springer, , 2015
Descrizione fisica 1 online resource (703 p.)
Disciplina 530
620.44
620.5
620115
Collana NanoScience and Technology
Soggetto topico Nanoscale science
Nanoscience
Nanostructures
Nanotechnology
Materials—Surfaces
Thin films
Nanoscale Science and Technology
Nanotechnology and Microengineering
Surfaces and Interfaces, Thin Films
ISBN 3-319-10560-4
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto Experimental Techniques -- Atomic-Scale Friction -- Multiscale Friction -- Nanomanipulation and Surface Diffusion -- Carbon Materials -- Polymer Friction, Nanowear -- Dissipation Mechanisms at Finite Separations -- Applications.
Record Nr. UNINA-9910298613503321
Cham : , : Springer International Publishing : , : Imprint : Springer, , 2015
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Noncontact Atomic Force Microscopy : Volume 3 / / edited by Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, Roland Wiesendanger
Noncontact Atomic Force Microscopy : Volume 3 / / edited by Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Ernst Meyer, Roland Wiesendanger
Edizione [1st ed. 2015.]
Pubbl/distr/stampa Cham : , : Springer International Publishing : , : Imprint : Springer, , 2015
Descrizione fisica 1 online resource (539 p.)
Disciplina 502.82
Collana NanoScience and Technology
Soggetto topico Nanoscale science
Nanoscience
Nanostructures
Materials—Surfaces
Thin films
Spectroscopy
Microscopy
Nanotechnology
Nanoscale Science and Technology
Surfaces and Interfaces, Thin Films
Spectroscopy and Microscopy
ISBN 3-319-15588-1
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Nota di contenuto From the Contents: Introduction -- 3D Force-Field Spectroscopy -- Simultaneous NC-AFM/STM Measurements of Atomic-Sized Contacts -- Spectroscopy and Manipulation Using AFM/STM at Room Temperature -- The Phantom Force - The Influence of a Tunnel Current on Force Microscopy -- Non-Contact Friction -- Magnetic Exchange Force Spectroscopy.
Record Nr. UNINA-9910298632903321
Cham : , : Springer International Publishing : , : Imprint : Springer, , 2015
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui