Advanced Transmission Electron Microscopy : Applications to Nanomaterials / editors Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal |
Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2015 |
Descrizione fisica | XII, 272 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina |
620.5(Nanotecnologia)
621.39(Microingegneria) 620.1(Scienze dei materiali) |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0242992 |
Cham, : Springer, 2015 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Advanced Transmission Electron Microscopy : Applications to Nanomaterials / editors Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal |
Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2015 |
Descrizione fisica | XII, 272 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina |
620.5(Nanotecnologia)
621.39(Microingegneria) 620.1(Scienze dei materiali) |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00242992 |
Cham, : Springer, 2015 | ||
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