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Backscattering spectrometry / Wei-Kan Chu, James W. Mayer, Marc-A. Nicolet
Backscattering spectrometry / Wei-Kan Chu, James W. Mayer, Marc-A. Nicolet
Autore Chu, Wei-Kan
Pubbl/distr/stampa New York : Academic Press, 1978
Disciplina 539.77
Soggetto non controllato Fisica nucleare
Tecniche di misura e strumentazione
ISBN 0-12-173850-7
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990001102450403321
Chu, Wei-Kan  
New York : Academic Press, 1978
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Electronic thin film science : for electrical engineers and materials scientists / King-Ning Tu, James W. Mayer, Leonard C. Feldman
Electronic thin film science : for electrical engineers and materials scientists / King-Ning Tu, James W. Mayer, Leonard C. Feldman
Autore Tu, K. N.
Pubbl/distr/stampa New York : Macmillan, c 1992
Descrizione fisica xvii, 428 p. ; 25 cm
Disciplina 621.38152
Altri autori (Persone) Mayer, James W.
Feldman, Leonard C.
Soggetto topico Microelettronica - Semiconduttori - Dispositivi a film sottile
ISBN 0024215759
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991000160989707536
Tu, K. N.  
New York : Macmillan, c 1992
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Ion Implantation in Semiconductors : Silicon and Germanium / James W. Mayer, Lennart Eriksson and John A. Davies
Ion Implantation in Semiconductors : Silicon and Germanium / James W. Mayer, Lennart Eriksson and John A. Davies
Autore Mayer, James W.
Pubbl/distr/stampa New York : Academic Press, 1970
Disciplina 537.623
Soggetto non controllato Superconduttività
Fluidi quantici
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990001031910403321
Mayer, James W.  
New York : Academic Press, 1970
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Laser annealing of semiconductors / edited by J.M. Poate and James W. Mayer
Laser annealing of semiconductors / edited by J.M. Poate and James W. Mayer
Autore Poate, J.M.
Pubbl/distr/stampa New York : Academic Press, 1982
Descrizione fisica 564 p. : ill. ; 24 cm.
Altri autori (Persone) Mayer, James W.
Soggetto topico Semiconductor industry
Semiconductors
Classificazione 53.2.68
53.7.18
53.8.22
621.3915'2
TA1673
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991001044809707536
Poate, J.M.  
New York : Academic Press, 1982
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Materials analysis by ion channeling : submicron crystallography / Leonard Feldman, James W. Mayer, S. Thomas Picraux
Materials analysis by ion channeling : submicron crystallography / Leonard Feldman, James W. Mayer, S. Thomas Picraux
Autore Feldman, Leonard C.
Pubbl/distr/stampa New York : Academic Press, 1982
Descrizione fisica xix, 300 p. : ill. ; 24 cm.
Altri autori (Persone) Mayer, James W.
Picraux, S. Thomas
Soggetto topico Channeling
Crystallography
Ion beams
Solids
Classificazione 53.7.1
53.7.8
620.1'1299
QC176.8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISALENTO-991001069559707536
Feldman, Leonard C.  
New York : Academic Press, 1982
Materiale a stampa
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