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Backscattering spectrometry / Wei-Kan Chu, James W. Mayer, Marc-A. Nicolet
| Backscattering spectrometry / Wei-Kan Chu, James W. Mayer, Marc-A. Nicolet |
| Autore | Chu, Wei-Kan |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Academic Press, 1978 |
| Disciplina | 539.77 |
| Soggetto non controllato |
Fisica nucleare
Tecniche di misura e strumentazione |
| ISBN | 0-12-173850-7 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-990001102450403321 |
Chu, Wei-Kan
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| New York : Academic Press, 1978 | ||
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Electronic thin film science : for electrical engineers and materials scientists / King-Ning Tu, James W. Mayer, Leonard C. Feldman
| Electronic thin film science : for electrical engineers and materials scientists / King-Ning Tu, James W. Mayer, Leonard C. Feldman |
| Autore | Tu, K. N. |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Macmillan, c 1992 |
| Descrizione fisica | xvii, 428 p. ; 25 cm |
| Disciplina | 621.38152 |
| Altri autori (Persone) |
Mayer, James W.
Feldman, Leonard C. |
| Soggetto topico | Microelettronica - Semiconduttori - Dispositivi a film sottile |
| ISBN | 0024215759 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991000160989707536 |
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Tu, K. N.
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| New York : Macmillan, c 1992 | ||
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Ion Implantation in Semiconductors : Silicon and Germanium / James W. Mayer, Lennart Eriksson and John A. Davies
| Ion Implantation in Semiconductors : Silicon and Germanium / James W. Mayer, Lennart Eriksson and John A. Davies |
| Autore | Mayer, James W. |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Academic Press, 1970 |
| Disciplina | 537.623 |
| Soggetto non controllato |
Superconduttività
Fluidi quantici |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNINA-990001031910403321 |
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Mayer, James W.
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| New York : Academic Press, 1970 | ||
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Laser annealing of semiconductors / edited by J.M. Poate and James W. Mayer
| Laser annealing of semiconductors / edited by J.M. Poate and James W. Mayer |
| Autore | Poate, J.M. |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Academic Press, 1982 |
| Descrizione fisica | 564 p. : ill. ; 24 cm. |
| Altri autori (Persone) | Mayer, James W. |
| Soggetto topico |
Semiconductor industry
Semiconductors |
| Classificazione |
53.2.68
53.7.18 53.8.22 621.3915'2 TA1673 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001044809707536 |
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Poate, J.M.
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| New York : Academic Press, 1982 | ||
| Materiale a stampa | ||
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Materials analysis by ion channeling : submicron crystallography / Leonard Feldman, James W. Mayer, S. Thomas Picraux
| Materials analysis by ion channeling : submicron crystallography / Leonard Feldman, James W. Mayer, S. Thomas Picraux |
| Autore | Feldman, Leonard C. |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Academic Press, 1982 |
| Descrizione fisica | xix, 300 p. : ill. ; 24 cm. |
| Altri autori (Persone) |
Mayer, James W.
Picraux, S. Thomas |
| Soggetto topico |
Channeling
Crystallography Ion beams Solids |
| Classificazione |
53.7.1
53.7.8 620.1'1299 QC176.8 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001069559707536 |
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Feldman, Leonard C.
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| New York : Academic Press, 1982 | ||
| Materiale a stampa | ||
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