Fundamentals of surface and thin film analysis / L.C. Feldman, J.W. Mayer
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| Autore: |
Mayer, J.W.
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| Titolo: |
Fundamentals of surface and thin film analysis / L.C. Feldman, J.W. Mayer
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| Pubblicazione: | Amsterdam : North-Holland Publ. Co., 1986 |
| Descrizione fisica: | xviii, 352 p. : ill. ; 24 cm. |
| Soggetto topico: | Surfaces (Physics) |
| Thin films | |
| Classificazione: | 53.7.8 |
| 53.7.18 | |
| 53.8.3 | |
| 530.4'1 | |
| QD506 | |
| Altri autori: | Feldman, Leonard C. |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 991000967869707536 |
| Lo trovi qui: | Univ. del Salento |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |