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Further studies of bootstrap variability for ROC analysis on large datasets / / Jin Chu Wu; Alvin F. Martin; Raghu N. Kacker
Further studies of bootstrap variability for ROC analysis on large datasets / / Jin Chu Wu; Alvin F. Martin; Raghu N. Kacker
Autore Wu Jin Chu
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2010
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) KackerRaghu N
MartinAlvin F
WuJin Chu
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710743803321
Wu Jin Chu  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2010
Materiale a stampa
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Hypothesis test of fingerprint-image matching algorithms in operational ROC analysis / / Jin Chu Wu, Alvin F. Martin, Raghu N. Kacker
Hypothesis test of fingerprint-image matching algorithms in operational ROC analysis / / Jin Chu Wu, Alvin F. Martin, Raghu N. Kacker
Autore Wu Jin Chu
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2009]
Descrizione fisica 1 online resource (ii, 23 pages) : illustrations
Altri autori (Persone) KackerRaghu
MartinAlvin F
Collana NISTIR
Soggetto topico Biometric identification
Fingerprints - Data processing
Image processing - Digital techniques
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Hypothesis test of fingerprint-image matching algorithms in operational Receiver Operating Characteristic analysis
Record Nr. UNINA-9910709940303321
Wu Jin Chu  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2009]
Materiale a stampa
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Measurement uncertainties in speaker recognition evaluation / / Jin Chu Wu; Alvin F. Martin; Craig S. Greenberg; Raghu N. Kacker
Measurement uncertainties in speaker recognition evaluation / / Jin Chu Wu; Alvin F. Martin; Craig S. Greenberg; Raghu N. Kacker
Autore Wu Jin Chu
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2010
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) GreenbergCraig S
KackerRaghu N
MartinAlvin F
WuJin Chu
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710745203321
Wu Jin Chu  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2010
Materiale a stampa
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Measurement uncertainties of three score distributions and two thresholds with data dependency / / Jin Chu Wu; Alvin F. Martin; Craig S. Greenberg; Raghu N. Kacker
Measurement uncertainties of three score distributions and two thresholds with data dependency / / Jin Chu Wu; Alvin F. Martin; Craig S. Greenberg; Raghu N. Kacker
Autore Wu Jin Chu
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2014
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) GreenbergCraig S
KackerRaghu N
MartinAlvin F
WuJin Chu
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710735403321
Wu Jin Chu  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2014
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Validation of two-sample bootstrap in ROC analysis on large datasets using AURC / / Jin Chu Wu; Alvin F. Martin; Raghu N. Kacker
Validation of two-sample bootstrap in ROC analysis on large datasets using AURC / / Jin Chu Wu; Alvin F. Martin; Raghu N. Kacker
Autore Wu Jin Chu
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2010
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) KackerRaghu N
MartinAlvin F
WuJin Chu
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910710743603321
Wu Jin Chu  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2010
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