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MARC Lista (tabellare)
Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow
Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow
Autore Hosmer, David W.
Edizione [2. ed.]
Pubbl/distr/stampa New York : Wiley, c2000
Descrizione fisica XII, 375 p. ; 25 cm
Disciplina 519.536
Altri autori (Persone) Lemeshow, Stanley
Collana Wiley series in probability and statistics, Texts and references
Soggetto non controllato Analisi della regressione
ISBN 978-0-471-35632-5
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNIPARTHENOPE-000026452
Hosmer, David W.  
New York : Wiley, c2000
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Parthenope
Opac: Controlla la disponibilità qui
Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Autore Hosmer, David W.
Edizione [2. ed]
Pubbl/distr/stampa New York, : Wiley, 2000
Descrizione fisica XII, 373 p. ; 25 cm.
Disciplina 570.15195(Biostatistica. Biometria)
Altri autori (Persone) Lemeshow, Stanley
ISBN 04-7135-632-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-SUN0019858
Hosmer, David W.  
New York, : Wiley, 2000
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Autore Hosmer, David W.
Edizione [2. ed]
Pubbl/distr/stampa New York, : Wiley, 2000
Descrizione fisica XII, 373 p. ; 25 cm
Disciplina 570.15195(Biostatistica. Biometria)
Altri autori (Persone) Lemeshow, Stanley
ISBN 04-7135-632-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0019858
Hosmer, David W.  
New York, : Wiley, 2000
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Applied Logistic Regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Applied Logistic Regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Autore Hosmer, David W.
Edizione [2. ed]
Pubbl/distr/stampa New York, : Wiley, 2000
Descrizione fisica XII, 373 p. ; 25 cm
Disciplina 570.15195(Biostatistica. Biometria)
Altri autori (Persone) Lemeshow, Stanley
ISBN 04-7135-632-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00019858
Hosmer, David W.  
New York, : Wiley, 2000
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Autore Hosmer, David W. <jr.>
Pubbl/distr/stampa New York : John Wiley, 1989
Descrizione fisica XIII, 307 p. ; 24 cm
Disciplina 519
519.5
Altri autori (Persone) Lemeshow, Stanley
Collana Wiley series in probability and mathematical statistics
Soggetto non controllato Regressione, Regressioni varie
ISBN 0471615536
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione ita
Record Nr. UNINA-990002513560403321
Hosmer, David W. <jr.>  
New York : John Wiley, 1989
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Sampling of populations : methods and applications / Paul S. Levy, Stanley Lemeshow
Sampling of populations : methods and applications / Paul S. Levy, Stanley Lemeshow
Autore Levy, Paul S.
Edizione [3. edizione]
Pubbl/distr/stampa New York , : John Wiley & Sons, c1999
Descrizione fisica xxxi, 525 p. ; 24 cm.
Disciplina 519.52
Altri autori (Persone) Lemeshow, Stanley
Collana Wiley series in probability and statistics, . Survey methodology
Soggetto topico Statistica
Popolazione - Metodi statistici
ISBN 0471155756
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAS-UBO0333411
Levy, Paul S.  
New York <etc.>, : John Wiley & Sons, c1999
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino e del Lazio Meridionale
Opac: Controlla la disponibilità qui
Sampling of Populations : Methods and Applications / Paul S. Levy ; Stanley Lemeshow
Sampling of Populations : Methods and Applications / Paul S. Levy ; Stanley Lemeshow
Autore Levy, Paul S.
Pubbl/distr/stampa New York : John Wiley, 1991
Descrizione fisica XXIII, 420 p. ; 25 cm
Disciplina 304
Soggetto non controllato Pianificazioni di indagini, Indagini campionarie
ISBN 0471508225
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-990002524450403321
Levy, Paul S.  
New York : John Wiley, 1991
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Sampling of populations : methods and applications / Paul S. Levy, Stanley Lemeshow
Sampling of populations : methods and applications / Paul S. Levy, Stanley Lemeshow
Autore Levy, Paul S.
Edizione [2. ed]
Pubbl/distr/stampa New York [etc.], : Wiley, c1991
Descrizione fisica XXIII, 420 p. ; 25 cm
Disciplina 519.52
Altri autori (Persone) Lemeshow, Stanley
Collana Wiley series in probability and mathematical statistics
Soggetto topico Campionamento
ISBN 0471508225
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISANNIO-MIL0128850
Levy, Paul S.  
New York [etc.], : Wiley, c1991
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. del Sannio
Opac: Controlla la disponibilità qui