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Statistical analysis of geographic information with ArcView and ArcGis / David W. S. Wong, Jay Lee
Statistical analysis of geographic information with ArcView and ArcGis / David W. S. Wong, Jay Lee
Autore Wong, David Wing-Shun
Descrizione fisica XVII, 441 p. : ill. ; 25 cm + 1 CD-ROM
Disciplina 910.285
Altri autori (Persone) Lee, Jay
Soggetto topico Sistemi informativi geografici
ISBN 0471468991
9780471468998
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNISANNIO-GEA0112425
Wong, David Wing-Shun  
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. del Sannio
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Statistical analysis with ArcView GIS / Jay Lee, David W. S. Wong
Statistical analysis with ArcView GIS / Jay Lee, David W. S. Wong
Autore Lee, Jay
Pubbl/distr/stampa New York, : Wiley, c2001
Descrizione fisica XI, 192 p. : ill. ; 24 cm.
Altri autori (Persone) Wong, David W. S.
ISBN 04-7134-874-0
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-SUN0040038
Lee, Jay  
New York, : Wiley, c2001
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
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Statistical analysis with ArcView GIS / Jay Lee, David W. S. Wong
Statistical analysis with ArcView GIS / Jay Lee, David W. S. Wong
Autore Lee, Jay
Pubbl/distr/stampa New York, : Wiley, c2001
Descrizione fisica XI, 192 p. : ill. ; 24 cm
Altri autori (Persone) Wong, David W. S.
ISBN 04-7134-874-0
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0040038
Lee, Jay  
New York, : Wiley, c2001
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
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Statistical analysis with ArcView GIS / Jay Lee, David W. S. Wong
Statistical analysis with ArcView GIS / Jay Lee, David W. S. Wong
Autore Lee, Jay
Pubbl/distr/stampa New York, : Wiley, c2001
Descrizione fisica XI, 192 p. : ill. ; 24 cm
Altri autori (Persone) Wong, David W. S.
ISBN 04-7134-874-0
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00040038
Lee, Jay  
New York, : Wiley, c2001
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui