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Thermophysical Properties and Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory / Rui Lan
Thermophysical Properties and Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory / Rui Lan
Autore Lan, Rui
Pubbl/distr/stampa Singapore, : Springer, 2020
Descrizione fisica XI, 139 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 620.11(Materiali dell'ingegneria)
620.1(Scienze dei materiali)
541.377(Semiconduttori)
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00243373
Lan, Rui  
Singapore, : Springer, 2020
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Thermophysical Propertiesvand Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory / Rui Lan
Thermophysical Propertiesvand Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory / Rui Lan
Autore Lan, Rui
Pubbl/distr/stampa Singapore, : Springer, 2020
Descrizione fisica XI, 139 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina 620.11(Materiali dell'ingegneria)
620.1(Scienze dei materiali)
541.377(Semiconduttori)
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0243373
Lan, Rui  
Singapore, : Springer, 2020
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