Thermophysical Properties and Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory / Rui Lan |
Autore | Lan, Rui |
Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer, 2020 |
Descrizione fisica | XI, 139 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina |
620.11(Materiali dell'ingegneria)
620.1(Scienze dei materiali) 541.377(Semiconduttori) |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00243373 |
Lan, Rui | ||
Singapore, : Springer, 2020 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Thermophysical Propertiesvand Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory / Rui Lan |
Autore | Lan, Rui |
Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer, 2020 |
Descrizione fisica | XI, 139 p. : ill. ; 24 cm |
Disciplina |
620.11(Materiali dell'ingegneria)
620.1(Scienze dei materiali) 541.377(Semiconduttori) |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0243373 |
Lan, Rui | ||
Singapore, : Springer, 2020 | ||
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