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Thermophysical Properties and Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory / Rui Lan
| Thermophysical Properties and Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory / Rui Lan |
| Autore | Lan, Rui |
| Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer, 2020 |
| Descrizione fisica | XI, 139 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
620.11(Materiali dell'ingegneria)
620.1(Scienze dei materiali) 541.377(Semiconduttori) |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00243373 |
Lan, Rui
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| Singapore, : Springer, 2020 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Thermophysical Propertiesvand Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory / Rui Lan
| Thermophysical Propertiesvand Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory / Rui Lan |
| Autore | Lan, Rui |
| Pubbl/distr/stampa | Singapore, : Springer, 2020 |
| Descrizione fisica | XI, 139 p. : ill. ; 24 cm |
| Disciplina |
620.11(Materiali dell'ingegneria)
620.1(Scienze dei materiali) 541.377(Semiconduttori) |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0243373 |
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Lan, Rui
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| Singapore, : Springer, 2020 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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