Vai al contenuto principale della pagina

A custom high-throughput optical mapping instrument (OMI) for accelerated stress testing of PV module materials / / Imran S. Khan [and three others]



(Visualizza in formato marc)    (Visualizza in BIBFRAME)

Autore: Khan Imran S. Visualizza persona
Titolo: A custom high-throughput optical mapping instrument (OMI) for accelerated stress testing of PV module materials / / Imran S. Khan [and three others] Visualizza cluster
Pubblicazione: [Golden, Colo.] : , : National Renewable Energy Laboratory, , 2021
Descrizione fisica: 1 online resource (16 pages) : color illustrations
Soggetto topico: Photovoltaic cells
Optical materials - Stress corrosion
Photovoltaic power generation
Note generali: Slideshow presentation.
"IEEE PVSC (virtual/Florida); Area 9: Module and System Reliability; Session 5B: Characterization of PV Module and System Reliability (Joint 5.8/9.4); Tuesday, 2021/6/22, 14:15-14:30 (MDT)."
Altri titoli varianti: Custom high-throughput optical mapping instrument
Titolo autorizzato: A custom high-throughput optical mapping instrument (OMI) for accelerated stress testing of PV module materials  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910716978803321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui