1980 annual report : optical measurements for interfacial conduction and breakdown / / R. E. Hebner Jr.; E. F. Kelley; J. E. Thompson; T. S. Sudarshan; T. B. Jones |
Autore | Hebner R. E., Jr |
Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1981 |
Descrizione fisica | 1 online resource |
Altri autori (Persone) |
HebnerR. E., Jr
JonesT. B KelleyE. F SudarshanT, S ThompsonJ. E |
Collana | NBSIR |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | 1980 annual report |
Record Nr. | UNINA-9910710277303321 |
Hebner R. E., Jr | ||
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1981 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
|
1981 annual report : optical measurements for interfacial conduction and breakdown / / R. E. Hebner Jr.; E. F. Kelley; J. N. Hagler |
Autore | Hebner R. E., Jr |
Pubbl/distr/stampa | Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1983 |
Descrizione fisica | 1 online resource |
Altri autori (Persone) |
HaglerJ. N
HebnerR. E., Jr KelleyE. F |
Collana | NBSIR |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Altri titoli varianti | 1981 annual report |
Record Nr. | UNINA-9910710214403321 |
Hebner R. E., Jr | ||
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1983 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
|