Optimal Inspection Models with Their Applications / Kodo Ito, Toshio Nakagawa |
Autore | Ito, Kodo |
Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2023 |
Descrizione fisica | X, 261 p. ; 24 cm |
Altri autori (Persone) | Nakagawa, Toshio |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN0277430 |
Ito, Kodo | ||
Cham, : Springer, 2023 | ||
Materiale a stampa | ||
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli | ||
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Optimal Inspection Models with Their Applications / Kodo Ito, Toshio Nakagawa |
Autore | Ito, Kodo |
Pubbl/distr/stampa | Cham, : Springer, 2023 |
Descrizione fisica | X, 261 p. ; 24 cm |
Altri autori (Persone) | Nakagawa, Toshio |
Formato | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione | eng |
Record Nr. | UNICAMPANIA-VAN00277430 |
Ito, Kodo | ||
Cham, : Springer, 2023 | ||
Materiale a stampa | ||
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