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Advanced metering infrastructure smart meter upgradeability test framework [[electronic resource] /] / Michaela Iorga, Scott Shorter
Advanced metering infrastructure smart meter upgradeability test framework [[electronic resource] /] / Michaela Iorga, Scott Shorter
Autore Iorga Michaela
Edizione [Draft.]
Pubbl/distr/stampa [Gaithersburg, Md.] : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2012]
Descrizione fisica 1 online resource (iv, 63 pages) : illustrations
Altri autori (Persone) ShorterScott
Collana NISTIR
Soggetto topico Electric power distribution - Automation - Security measures - United States
Smart power grids - Security measures - Standards - United States
Smart power grids - United States - Testing
Electric meters - Technological innovations - United States
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910702132503321
Iorga Michaela  
[Gaithersburg, Md.] : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2012]
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Cryptographic and security testing [[electronic resource] /] / Michaela Iorga and Carroll Brickenkamp
Cryptographic and security testing [[electronic resource] /] / Michaela Iorga and Carroll Brickenkamp
Autore Iorga Michaela
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, Md. : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2008]
Altri autori (Persone) BrickenkampC. S
Collana NIST handbook
Soggetto topico Data encryption (Computer science) - Equipment and supplies - Standards - United States
Testing laboratories - Accreditation - United States
Research, Industrial - Laboratories - Accreditation - United States
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti National Voluntary Laboratory Accreditation Program
NVLAP cryptographic and security testing
Record Nr. UNINA-9910701188503321
Iorga Michaela  
Gaithersburg, Md. : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2008]
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui