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IEC 60679 : Quartz crystal controlled oscillators of ossessed quality : International standard / International Electrotechnical Commission
| IEC 60679 : Quartz crystal controlled oscillators of ossessed quality : International standard / International Electrotechnical Commission |
| Autore | International electrotechnical commission |
| Pubbl/distr/stampa | Geneva, : IEC |
| Descrizione fisica | fascicoli ; 30 cm |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione |
eng
fre |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0556935 |
International electrotechnical commission
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| Geneva, : IEC | ||
| Materiale a stampa | ||
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IEC 60748-4-3:2006-08 : semiconductor devices - integrated circuits : Part 4-3 : integrated circuits - dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC) : international standard / CEI
| IEC 60748-4-3:2006-08 : semiconductor devices - integrated circuits : Part 4-3 : integrated circuits - dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC) : international standard / CEI |
| Autore | International electrotechnical commission |
| Pubbl/distr/stampa | Geneva, : IEC, ©2006 |
| Descrizione fisica | 36 p. ; 30 cm |
| Soggetto topico | Semiconduttori - Standardizzazione |
| ISBN | 2831887887 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0472635 |
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International electrotechnical commission
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| Geneva, : IEC, ©2006 | ||
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IEC 61280 : Fibre optic communication subsystem test procedures : International standard / International Electrotechnical Commission
| IEC 61280 : Fibre optic communication subsystem test procedures : International standard / International Electrotechnical Commission |
| Autore | International electrotechnical commission |
| Pubbl/distr/stampa | Geneva, : IEC |
| Descrizione fisica | fascicoli ; 30 cm |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione |
eng
fre |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0556953 |
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International electrotechnical commission
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| Geneva, : IEC | ||
| Materiale a stampa | ||
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Part 2-3: IEC 61280-2-3:2009 : Digital systems - jitter and wander measurements / International electrotechnical commission
| Part 2-3: IEC 61280-2-3:2009 : Digital systems - jitter and wander measurements / International electrotechnical commission |
| Autore | International electrotechnical commission |
| Pubbl/distr/stampa | Geneve, : CEI, 2009 |
| Descrizione fisica | 40 p. ; 30 cm |
| ISBN | 9782889104758 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0556955 |
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International electrotechnical commission
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| Geneve, : CEI, 2009 | ||
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Part 6: IEC60679-6:2011 : Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW oscillators - Application guidelines : international standard
| Part 6: IEC60679-6:2011 : Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW oscillators - Application guidelines : international standard |
| Autore | International electrotechnical commission |
| Descrizione fisica | 42 p. ; 30 cm |
| ISBN | 9782889124039 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione |
eng
fre |
| Record Nr. | UNISANNIO-NAP0556943 |
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International electrotechnical commission
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