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ELFT-EFS Evaluation of Latent Fingerprint Technologies : Extended Feature Sets [evaluation #1] / / M. Indovina; R. A. Hicklin; G. I. Kiebuzinski
ELFT-EFS Evaluation of Latent Fingerprint Technologies : Extended Feature Sets [evaluation #1] / / M. Indovina; R. A. Hicklin; G. I. Kiebuzinski
Autore Indovina M (Michael D.)
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2011
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) HicklinR. Austin
IndovinaM (Michael D.)
KiebuzinskiGeorge
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti ELFT-EFS Evaluation of Latent Fingerprint Technologies
Record Nr. UNINA-9910709597703321
Indovina M (Michael D.)  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2011
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Evaluation of latent fingerprint technologies : extended feature sets [evaluation #2] / / M. Indovina; V. Dvornychenko; R. A. Hicklin; G. I. Kiebuzinski
Evaluation of latent fingerprint technologies : extended feature sets [evaluation #2] / / M. Indovina; V. Dvornychenko; R. A. Hicklin; G. I. Kiebuzinski
Autore Indovina M (Michael D.)
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2012
Descrizione fisica 1 online resource
Altri autori (Persone) DvornychenkoV
HicklinR. Austin
IndovinaM (Michael D.)
KiebuzinskiGeorge
Collana NISTIR
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Altri titoli varianti Evaluation of latent fingerprint technologies
Record Nr. UNINA-9910710738103321
Indovina M (Michael D.)  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 2012
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui