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Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques / Sebastian Huhn, Rolf Drechsler
Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques / Sebastian Huhn, Rolf Drechsler
Autore Huhn, Sebastian
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2021
Descrizione fisica XXI, 164 p. : ill. ; 24 cm
Altri autori (Persone) Drechsler, Rolf
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0247157
Huhn, Sebastian  
Cham, : Springer, 2021
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques / Sebastian Huhn, Rolf Drechsler
Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques / Sebastian Huhn, Rolf Drechsler
Autore Huhn, Sebastian
Pubbl/distr/stampa Cham, : Springer, 2021
Descrizione fisica XXI, 164 p. : ill. ; 24 cm
Altri autori (Persone) Drechsler, Rolf
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00247157
Huhn, Sebastian  
Cham, : Springer, 2021
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