top

  Info

  • Utilizzare la checkbox di selezione a fianco di ciascun documento per attivare le funzionalità di stampa, invio email, download nei formati disponibili del (i) record.

  Info

  • Utilizzare questo link per rimuovere la selezione effettuata.
Assessment of access control systems [[electronic resource] /] / Vincent C. Hu, David F. Ferraiolo, D. Rick Kuhn
Assessment of access control systems [[electronic resource] /] / Vincent C. Hu, David F. Ferraiolo, D. Rick Kuhn
Autore Hu Vincent C
Pubbl/distr/stampa [Gaithersburg, Md.] : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2006]
Descrizione fisica xi, 51 pages : digital, PDF file
Altri autori (Persone) FerraioloDavid
KuhnD. Richard
Collana Interagency report
Soggetto topico Computer security - Access control
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910695748903321
Hu Vincent C  
[Gaithersburg, Md.] : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2006]
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui
Guidelines for access control system evaluation metrics / / Vincent C. Hu, Karen Scarfone
Guidelines for access control system evaluation metrics / / Vincent C. Hu, Karen Scarfone
Autore Hu Vincent C
Pubbl/distr/stampa Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2012]
Descrizione fisica 1 online resource (49 unnumbered pages) : illustrations
Altri autori (Persone) ScarfoneKaren
Collana NISTIR
Soggetto topico Computer systems - Access control - Standards - United States
Information storage and retrieval systems - United States - Access control - Standards
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNINA-9910702135003321
Hu Vincent C  
Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , [2012]
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui