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ELECTRON Microscopy of thin Crystals / By P.B. Hirsch, A. Howie, R.B. Nicholson, D.W. Pashley, M.J. Whelan
| ELECTRON Microscopy of thin Crystals / By P.B. Hirsch, A. Howie, R.B. Nicholson, D.W. Pashley, M.J. Whelan |
| Pubbl/distr/stampa | London : Butterworths, 1965 |
| Descrizione fisica | IX,549 p., ill., 25 cm |
| Disciplina | 535 |
| Formato | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | ita |
| Record Nr. | UNINA-990000284720403321 |
| London : Butterworths, 1965 | ||
| Materiale a stampa | ||
| Lo trovi qui: Univ. Federico II | ||
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Surface and interface characterization by electron optical methods / edited by A. Howie and U. Valdrè
| Surface and interface characterization by electron optical methods / edited by A. Howie and U. Valdrè |
| Autore | NATO Advanced Study Institute on the study of surfaces and interfaces by electron optical techniques <1987 ; Erice, Italy> |
| Pubbl/distr/stampa | New York : Plenum Press : Published in cooperation with the NATO Scientific Affairs Division, c1988 |
| Descrizione fisica | viii, 319 p. : ill. (some col.) ; 26 cm. |
| Altri autori (Persone) |
Howie, A.
Valdrè, U. |
| Collana | NATO ASI Series. Series B, Physics ; 191 |
| Soggetto topico |
Electron microscope, transmission - Congresses
Electron microscopy - Congresses Surfaces (Physics)-Technique - Congresses |
| ISBN | 030643086X |
| Classificazione |
530.4'1
QC173.4 |
| Formato | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione | eng |
| Record Nr. | UNISALENTO-991001281069707536 |
