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Adequacy of sample size in healt studies / edited by Stanley Lemeshow, David W. Hosmer, Stephen K. Lwanga
Adequacy of sample size in healt studies / edited by Stanley Lemeshow, David W. Hosmer, Stephen K. Lwanga
Autore LEMESHOW, Stanley
Pubbl/distr/stampa Chichester [etc.], : John Wiley & Sons, 1990
Descrizione fisica XII, 239 p. ; 23 cm
Disciplina 363.1
Altri autori (Persone) Lwanga, Stephen K.
Hosmer, David W.
Soggetto topico Sanità pubblica - Indagine per campione - Metodi
ISBN 0471925179
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAS-RML0305580
LEMESHOW, Stanley  
Chichester [etc.], : John Wiley & Sons, 1990
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. di Cassino e del Lazio Meridionale
Opac: Controlla la disponibilità qui
Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow
Applied logistic regression / David W. Hosmer, Stanley Lemeshow
Autore Hosmer, David W.
Edizione [2. ed.]
Pubbl/distr/stampa New York : Wiley, c2000
Descrizione fisica XII, 375 p. ; 25 cm
Disciplina 519.536
Altri autori (Persone) Lemeshow, Stanley
Collana Wiley series in probability and statistics, Texts and references
Soggetto non controllato Analisi della regressione
ISBN 978-0-471-35632-5
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Titolo uniforme
Record Nr. UNIPARTHENOPE-000026452
Hosmer, David W.  
New York : Wiley, c2000
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Parthenope
Opac: Controlla la disponibilità qui
Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Autore Hosmer, David W.
Edizione [2. ed]
Pubbl/distr/stampa New York, : Wiley, 2000
Descrizione fisica XII, 373 p. ; 25 cm.
Disciplina 570.15195(Biostatistica. Biometria)
Altri autori (Persone) Lemeshow, Stanley
ISBN 04-7135-632-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-SUN0019858
Hosmer, David W.  
New York, : Wiley, 2000
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Autore Hosmer, David W.
Edizione [2. ed]
Pubbl/distr/stampa New York, : Wiley, 2000
Descrizione fisica XII, 373 p. ; 25 cm
Disciplina 570.15195(Biostatistica. Biometria)
Altri autori (Persone) Lemeshow, Stanley
ISBN 04-7135-632-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN0019858
Hosmer, David W.  
New York, : Wiley, 2000
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui
Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Applied logistic regression / David W. Hosmer jr., Stanley Lemeshow
Autore Hosmer, David W.
Edizione [2. ed]
Pubbl/distr/stampa New York, : Wiley, 2000
Descrizione fisica XII, 373 p. ; 25 cm
Disciplina 570.15195(Biostatistica. Biometria)
Altri autori (Persone) Lemeshow, Stanley
ISBN 04-7135-632-8
Formato Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione eng
Record Nr. UNICAMPANIA-VAN00019858
Hosmer, David W.  
New York, : Wiley, 2000
Materiale a stampa
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Opac: Controlla la disponibilità qui